English  |  正體中文  |  简体中文  |  總筆數 :0  
造訪人次 :  51370355    線上人數 :  830
教育部委託研究計畫      計畫執行:國立臺灣大學圖書館
 
臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)
關於TAIR

瀏覽

消息

著作權

相關連結

"jiang cheng min"的相關文件

回到依作者瀏覽
依題名排序 依日期排序

顯示項目 1-5 / 5 (共1頁)
1 
每頁顯示[10|25|50]項目

機構 日期 題名 作者
國立交通大學 2020-02-02T23:54:29Z Analytical Modeling of Read-Induced SET-State Conductance Change in a Hafnium-Oxide Resistive Switching Device Su, Po-Cheng; Jiang, Cheng-Min; Chen, Yu-Jia; Wang, Chih-Chieh; Li, Kai-Shin; Lin, Chao-Cheng; Wang, Tahui
國立交通大學 2019-04-02T05:59:54Z Modeling of Read-Disturb-Induced SET-State Current Degradation in a Tungsten Oxide Resistive Switching Memory Su, Po-Cheng; Jiang, Cheng-Min; Wang, Chih-Wei; Wang, Tahui
國立交通大學 2018-08-21T05:54:20Z Characterization of nitride hole lateral transport in a charge trap flash memory by using a random telegraph signal method Liu, Yu-Heng; Jiang, Cheng-Min; Lin, Hsiao-Yi; Wang, Tahui; Tsai, Wen-Jer; Lu, Tao-Cheng; Chen, Kuang-Chao; Lu, Chih-Yuan
國立交通大學 2017-04-21T06:56:17Z Electric Field Induced Nitride Trapped Charge Lateral Migration in a SONOS Flash Memory Liu, Yu-Heng; Jiang, Cheng-Min; Chen, Wei-Chun; Wang, Tahui; Tsai, Wen-Jer; Lu, Tao-Cheng; Chen, Kuang-Chao; Lu, Chih-Yuan
國立交通大學 2017-04-21T06:56:07Z Electric Field Induced Nitride Trapped Charge Lateral Migration in a SONOS Flash Memory Liu, Yu-Heng; Jiang, Cheng-Min; Chen, Wei-Chun; Wang, Tahui; Tsai, Wen-Jer; Lu, Tao-Cheng; Chen, Kuang-Chao; Lu, Chih-Yuan

顯示項目 1-5 / 5 (共1頁)
1 
每頁顯示[10|25|50]項目