English  |  正體中文  |  简体中文  |  總筆數 :0  
造訪人次 :  51218076    線上人數 :  751
教育部委託研究計畫      計畫執行:國立臺灣大學圖書館
 		 
搜尋範圍 進階搜尋
臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)
關於TAIR
計畫說明

瀏覽
典藏機構
作者
題名
日期
統計圖表
機構即時統計
學術趨勢

消息
2019臺灣學術機構典藏
研討會
機構典藏系統RC7版本已
發佈

著作權
出版社及期刊政策查詢
TAIR著作權會議記錄

相關連結
機構典藏計畫網站
ROAR
OpenDOAR
SHERPA
OAIster
JAIRO
Ira
DSPACE
RWWR
臺大學術典藏NTU Scholars
臺灣機構典藏 TAIR >  依作者瀏覽

"jing jou tang"的相關文件

回到依作者瀏覽
依題名排序 依日期排序

顯示項目 46-59 / 59 (共2頁)
1 2 > >>
每頁顯示[10|25|50]項目

機構 日期 題名 作者
南台科技大學 2004 Characteristics of spike-free single and double heterostructure-emitter bipolar transistors Yu-Shyan Lin; Wei-Chou Hsu; Fuh-Cheng Jong; Yu-Zung Chiou; Yeong-Jia Chen; Jing-Jou Tang;蔣富成;唐經洲;邱裕中
南台科技大學 2003-12 On the Use of Multiplier Area Reduction Technique in OFDM Implementations Chao-Tang Yu; Shung-Chih Chen; Chia-Lian Tsai; Jing-Jou Tang
南台科技大學 2003-09 On the use of Multiplier Area Reduction Technique in OFDM Implementations Chao-Tang Yu; Shung-Chih Chen; Chia-Lian Tsai; Jing-Jou Tang
南台科技大學 2002-08 Implementation of FFT Architecture in A Programmable OFDM Shuenn-Yuh Lee; Sin-Hsien Wu; Chao-Tang Yu; Jing-Jou Tang
南台科技大學 2001 EM78447應用之GPS環境遙測系統 唐經洲; Jing-Jou Tang
南台科技大學 1999-04 BIFEST: A Built-in Intermediate Fault Effect Sensing and Test Generation System for CMOS Bridging Faults Kuen-Jong Lee; 唐經洲; Jing-Jou Tang; Tsung-Chu Huang
南台科技大學 1999-01 Graph-based detail router for hierarchical filed-programmable gate arrays P. C. Wang;唐經洲; Jing-Jou Tang
南台科技大學 1998-10 A new representation for programmable logic arrays to facilitate testing and logic design J. J. Tang; K. J. Lee; B. D. Liu;唐經洲; Jing-Jou Tang
南台科技大學 1998 A Built-In Current Sensor Based on Current-Mode Design 李昆忠; Kuen-Jong Lee; 唐經洲; Jing-Jou Tang
南台科技大學 1996-09 Low test-application time method for EEPLA testing B. D. Liu; K. C. Wei; J. J. Tang;唐經洲; Jing-Jou Tang
南台科技大學 1996-04 A Built-In Current Sensor Based on Current-Mode Design 李昆忠; Kuen-Jong Lee; 唐經洲; Jing-Jou Tang; 劉濱達
南台科技大學 1996-01 Combination of automatic test pattern generation and built-in intermediate voltage sensing for detecting CMOS bridging faults Kuen-Jong Lee ; Jing-Jou Tang;Tsung-Chu Huang; Cheng-Liang Tsai; 李昆忠;唐經洲;黃宗柱
南台科技大學 1995-06 A practical current sensing technique for IDDQ testing 唐經洲; Jing-Jou Tang; Kuen-Jong Lee; Bin-Da Liu
南台科技大學 1995-03 Bulit-in intermediate voltage testing for CMOS circuits Jing-Jou Tang ; Kuen-Jong Lee; Bin-Da Liu; 唐經洲;李昆忠;劉濱達

顯示項目 46-59 / 59 (共2頁)
1 2 > >>
每頁顯示[10|25|50]項目

DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT   &  Hewlett-Packard   /   Enhanced by   NTU Library IR team