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機構 日期 題名 作者
南台科技大學 1999-04 BIFEST: A Built-in Intermediate Fault Effect Sensing and Test Generation System for CMOS Bridging Faults Kuen-Jong Lee; 唐經洲; Jing-Jou Tang; Tsung-Chu Huang
南台科技大學 1999-01 Graph-based detail router for hierarchical filed-programmable gate arrays P. C. Wang;唐經洲; Jing-Jou Tang
南台科技大學 1998-10 A new representation for programmable logic arrays to facilitate testing and logic design J. J. Tang; K. J. Lee; B. D. Liu;唐經洲; Jing-Jou Tang
南台科技大學 1998 A Built-In Current Sensor Based on Current-Mode Design 李昆忠; Kuen-Jong Lee; 唐經洲; Jing-Jou Tang
南台科技大學 1996-09 Low test-application time method for EEPLA testing B. D. Liu; K. C. Wei; J. J. Tang;唐經洲; Jing-Jou Tang
南台科技大學 1996-04 A Built-In Current Sensor Based on Current-Mode Design 李昆忠; Kuen-Jong Lee; 唐經洲; Jing-Jou Tang; 劉濱達
南台科技大學 1996-01 Combination of automatic test pattern generation and built-in intermediate voltage sensing for detecting CMOS bridging faults Kuen-Jong Lee ; Jing-Jou Tang;Tsung-Chu Huang; Cheng-Liang Tsai; 李昆忠;唐經洲;黃宗柱
南台科技大學 1995-06 A practical current sensing technique for IDDQ testing 唐經洲; Jing-Jou Tang; Kuen-Jong Lee; Bin-Da Liu
南台科技大學 1995-03 Bulit-in intermediate voltage testing for CMOS circuits Jing-Jou Tang ; Kuen-Jong Lee; Bin-Da Liu; 唐經洲;李昆忠;劉濱達

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