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机构	日期	题名	作者
國立交通大學	2018-08-21T05:54:12Z	Atomic-Scale Mechanisms of Defect-Induced Retention Failure in Ferroelectrics	Li, Linze; Zhang, Yi; Xie, Lin; Jokisaar, Jacob R.; Beekman, Christianne; Yang, Jan -Chi; Chu, Ying-Hao; Christen, Hans M.; Pan, Xiaoqing

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