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机构	日期	题名	作者
臺大學術典藏	2018-09-10T09:25:32Z	3D IC test scheduling using simulated annealing	CY Hsu;CY Kuo;JCM Li;K. Chakrbarty; CY Hsu; CY Kuo; JCM Li; K. Chakrbarty; CHIEN-MO LI
臺大學術典藏	2018-09-10T09:25:32Z	3D IC test scheduling using simulated annealing	CY Hsu;CY Kuo;JCM Li;K. Chakrbarty; CY Hsu; CY Kuo; JCM Li; K. Chakrbarty; CHIEN-MO LI
臺大學術典藏	2018-09-10T08:47:25Z	Thermal-aware Test scheduling for 3D ICs	CY Hsu; JCM Li; K. Chakrbarty; CHIEN-MO LI

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