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机构 日期 题名 作者
國立交通大學 2014-12-12T02:13:06Z 晶圓製造廠生產規劃模式之構建 李國禎; K. J. Lee; 鍾淑馨; S. H. Chung
義守大學 2009-07 Tribological behavior of carbon nanotube/aluminosilicate composites prepared through TEOS/boehmite catalyst sol–gel and CVD process K.J. Lee;Y.T. Yeh;H.Z. Cheng;P.C. Chang;S.W. Lin;Y.D. Chen
元智大學 2009-04 Refinement of circular-polarization based on multilayer film structure 周錫增; B. Li; K-J Lee; S-H Huang; W-Y Gu
元智大學 2008-11 A POLARIZATION COMPENSATION APPROACH UTILIZING A PARABOLOID PHOTONIC-CRYSTAL STRUCTURE FOR CROSSED-DIPOLE EXCITED REFLECTOR ANTENNAS 周錫增; B. Li; K.-J. Lee; W. Gu
元智大學 2007-08 One-Dimensional Photonic Crystals based on Polarization Compensation Approach 周錫增; K-J Lee; B. Li; G-L Hong; Y-W Yin
元智大學 2007-08 One-Dimensional Photonic Crystals based on Polarization Compensation Approach 周錫增; K-J Lee; B. Li; G-L Hong; Y-W Yin
義守大學 2007-04 The influence of carbon fiber orientation on the mechanical and tribological behavior of carbon fiber/LCP composites K.J. Lee;H.Z. Cheng;W.S. Jou;G.J. Chen;C.W. Liang; 李國榮
義守大學 2003-02 Microstructure study of PAN-pitch carbon-carbon composite lubricative film K.J Lee;J.H Chern Lin;C.P Ju
義守大學 2000-05 Multi-braking tribological behavior of PAN-pitch, PAN-CVI, and pitch-resin-CVI carbon-carbon compsites C.P Ju;J.H Chern Lin;K.J Lee;H.H Kuo
南台科技大學 1998-12 Determination of threshold voltage for CMOS gates to facilitate test pattern generation and fault simulation K. J. Lee; J. J. Tang
南台科技大學 1998-12 On the determination of threshold voltages for CMOS gate to facilitate test pattern generation and fault simulation K. J. Lee; J. J. Tang
南台科技大學 1998-10 A new representation for programmable logic arrays to facilitate testing and logic design J. J. Tang; K. J. Lee; B. D. Liu;唐經洲; Jing-Jou Tang
南台科技大學 1996-01 Two modeling techniques for CMOS Circuits to enhance test generation and fault simulation for bridging faults K. J. Lee; J. J. Tang; 唐經洲
南台科技大學 1995-05 An IDDQ fault model to facilitate the design of built-in current sensor (BICSs) B. D. Liu; J. J. Tang; K. J. Lee
南台科技大學 1994-08 Bulit-in intermediate voltage testing for CMOS circuits K. J. Lee; J. J. Tang
南台科技大學 1994-01 Physical fault consideration of test pattern generation for large embeeded PLAs B. D. Liu; J. J. Tang; K. J. Lee
南台科技大學 1993-09 A real time IDDQ testing scheme using current conveyor technique J. J. Tang; K.J. Lee; B.D. Liu
南台科技大學 1993-09 Maximal fault diagnosis resolution for programmable logic array B. D. Liu; J. J. Tang; K. J. Lee
南台科技大學 1993-08 A new current sensing technique for IDDQ testing J. J. Tang; K. J. Lee; B. D. Liu

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