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臺大學術典藏 2018-09-10T09:50:52Z On guaranteeing capture safety in at-speed scan testing with broadcast-scan-based test compression K. Enokimoto;X. Wen;K. Miyase;J.-L. Huang;S. Kajihara;L.-T. Wang; K. Enokimoto; X. Wen; K. Miyase; J.-L. Huang; S. Kajihara; L.-T. Wang; JIUN-LANG HUANG
臺大學術典藏 2018-09-10T09:50:52Z On guaranteeing capture safety in at-speed scan testing with broadcast-scan-based test compression K. Enokimoto;X. Wen;K. Miyase;J.-L. Huang;S. Kajihara;L.-T. Wang; K. Enokimoto; X. Wen; K. Miyase; J.-L. Huang; S. Kajihara; L.-T. Wang; JIUN-LANG HUANG
臺大學術典藏 2018-09-10T07:43:03Z Power Supply Noise Reduction for At-Speed Scan Testing in Linear-Decompression Environment M.-F. Wu;J.-L. Huang;X. Wen;K. Miyase; M.-F. Wu; J.-L. Huang; X. Wen; K. Miyase; JIUN-LANG HUANG
臺大學術典藏 2018-09-10T07:43:03Z Power Supply Noise Reduction for At-Speed Scan Testing in Linear-Decompression Environment M.-F. Wu;J.-L. Huang;X. Wen;K. Miyase; M.-F. Wu; J.-L. Huang; X. Wen; K. Miyase; JIUN-LANG HUANG
臺大學術典藏 2018-09-10T07:09:28Z Reducing Power Supply Noise in Linear-Decompressor-Based Test Data Compression Environment for At-Speed Testing M.-F. Wu; J.-L. Huang; X. Wen; K. Miyase; JIUN-LANG HUANG

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