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机构	日期	题名	作者
國立成功大學	2015-06-04	Elimination of strength degrading effects caused by surface microdefect: A prevention achieved by silicon nanotexturing to avoid catastrophic brittle fracture	Kashyap, Kunal; Kumar, Amarendra; Huang, Chuan-Torng; Lin, Yu-Yun; Hou, Max T.; Yeh, J. Andrew

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