臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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机构	日期	题名	作者
南台科技大學	2005	Reliability studies of Hf-doped and NH3-nitrided gate dielectric for advanced CMOS application	C. W. Yang; Y. K. Fang; S. F. Chen; C. S. Lin; C. Y. Lin; W. D. Wang; T. H. Chou; P. J. Lin; M. F. Wang; T. H. Hou; L. G. Yao; S. C. Chen; M. S. Liang;陳世芳;陳順智
南台科技大學	2003-01	Improvement the Short-Channel Characteristics of a 0.1um PMOSFET with Ultra-Low Temperature Nitride Spacer by using a novel Oxide Capping Boron Up-Hill Treatment	C. W. Yang; Y. K. Fang; C. H. Chen; W. D. Wang; S. F. Ting; S. F. Chen; J. Y. Cheng; M. F. Wang; C. L. Chen; L. G. Yao; T. L. Lee; S. C. Chen; C. H. Yu; M. S. Liang;陳世芳
南台科技大學	2003	Effect of polycrystailline-silicon gate types on the opposite flatband voltage shift in n-type and p-type metal-oxide-semiconductor field-effect transistor for high-k-HfO2 dielectric	C. W. Yang; Y. K. Fang; C. H. Chen; S. F. Chen; C. Y. Lin; C. S. Lin; M. F. Wang; Y. M. Lin; T. H. Hou; C. H. Chen; L. G. Yao; S. C. Chen; M. S. Liang;陳世芳
南台科技大學	2003	HfO2/HfSixOy high-k gate stack with very low leakage current for low-power poly-si gated CMOS application	C. W. Yang; Y. K. Fang; S. F. Chen; M. F. Wang; T.H.Hou; Y.M.Lin; L.G.Yao; S. C. Chen; M. S. Liang;陳世芳
南台科技大學	2001-10	Originals and effects of radical-induced re-oxidation in ultra-thin remote plasma nitrided oxides	C. H. Chen; Y. K. Fang; W. T. Hsieh; S. F. Ting; M. C. Yu; M. F. Wang; C. L. Chen; L. G. Yao; S. C. Chen; C. H. Yu; M. S. Liang;陳順智;謝文哲

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