English  |  正體中文  |  简体中文  |  总笔数 :2828138  
造访人次 :  32086127    在线人数 :  1402
教育部委托研究计画      计画执行:国立台湾大学图书馆
 
臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)
关于TAIR

浏览

消息

著作权

相关连结

"lacroix y"的相关文件

回到依作者浏览
依题名排序 依日期排序

显示项目 1-5 / 5 (共1页)
1 
每页显示[10|25|50]项目

机构 日期 题名 作者
臺大學術典藏 2020-06-16T06:33:13Z Erratum: Defect-free band-edge photoluminescence and band gap measurement of pseudomorphic Si1-x-yGexCy alloy layers on Si (100)" (Appl. Phys. Lett. (1995) 67 (3915)) Amour, A.St.;Liu, C.W.;Sturm, J.C.;Lacroix, Y.;Thewalt, M.L.W.; Amour, A.St.; Liu, C.W.; Sturm, J.C.; Lacroix, Y.; Thewalt, M.L.W.; CHEE-WEE LIU
臺大學術典藏 2018-09-10T05:23:46Z Erratum: Defect-free band-edge photoluminescence and band gap measurement of pseudomorphic Si1-x-yGexCy alloy layers on Si (100)" (Appl. Phys. Lett. (1995) 67 (3915)) Amour, A.St.;Liu, C.W.;Sturm, J.C.;Lacroix, Y.;Thewalt, M.L.W.; Amour, A.St.; Liu, C.W.; Sturm, J.C.; Lacroix, Y.; Thewalt, M.L.W.; CHEE-WEE LIU
臺大學術典藏 2018-09-10T05:23:46Z Erratum: Defect-free band-edge photoluminescence and band gap measurement of pseudomorphic Si1-x-yGexCy alloy layers on Si (100)" (Appl. Phys. Lett. (1995) 67 (3915)) Amour, A.St.;Liu, C.W.;Sturm, J.C.;Lacroix, Y.;Thewalt, M.L.W.; Amour, A.St.; Liu, C.W.; Sturm, J.C.; Lacroix, Y.; Thewalt, M.L.W.; CHEE-WEE LIU
臺大學術典藏 2018-09-10T05:23:46Z Defect-free band-edge photoluminescence and band gap measurement of pseudomorphic Si1-x-yGexCy alloy layers on Si (100) St. Amour, A.;Liu, C.W.;Sturm, J.C.;Lacroix, Y.;Thewalt, M.L.W.; St. Amour, A.; Liu, C.W.; Sturm, J.C.; Lacroix, Y.; Thewalt, M.L.W.; CHEE-WEE LIU
臺大學術典藏 2018-09-10T05:23:46Z Defect-free band-edge photoluminescence and band gap measurement of pseudomorphic Si1-x-yGexCy alloy layers on Si (100) St. Amour, A.;Liu, C.W.;Sturm, J.C.;Lacroix, Y.;Thewalt, M.L.W.; St. Amour, A.; Liu, C.W.; Sturm, J.C.; Lacroix, Y.; Thewalt, M.L.W.; CHEE-WEE LIU

显示项目 1-5 / 5 (共1页)
1 
每页显示[10|25|50]项目