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机构	日期	题名	作者
國立交通大學	2014-12-08T15:16:07Z	Current properties of GaNV-defect using conductive atomic force microscopy	Lee, Lino; Ku, Ching-Shun; Ke, Wen-Cheng; Ho, Chih-Wei; Huang, Huai-Ying; Lee, Ming-Chih; Chen, Wen-Hsiung; Chou, Wu-Chin; Chen, Wei-Kuo

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