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"lee po hao"的相关文件
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| 國立交通大學 |
2014-12-08T15:15:31Z |
Plasma damage-enhanced negative bias temperature instability in low-temperature polycrystalline silicon thin-film transistors
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Chen, Chih-Yang; Lee, Jam-Wem; Chen, Wei-g Chen; Lin, Hsiao-Yi; Yeh, Kuan-Lin; Lee, Po-Hao; Wang, Shen-De; Lei, Tan-Fu |
| 國立交通大學 |
2014-12-08T15:14:11Z |
A reliability model for low-temperature polycrystalline silicon thin-film transistors
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Chen, Chih-Yang; Lee, Jam-Wem; Lee, Po-Hao; Chen, Wei-Cheng; Lin, Hsiao-Yi; Yeh, Kuan-Lin; Ma, Ming-Wen; Wang, Shen-De; Lei, Tan-Fu |
显示项目 1-2 / 2 (共1页)
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