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機構 日期 題名 作者
朝陽科技大學 2021-10-31 A Study of Fashion Apparel Detection Based on YOLOv4 LIN, CHEN-WEI; 林承緯
臺大學術典藏 2020-06-11T06:50:43Z A Charge-Sensing-Capable Source Driver for TFT Array Testing in System-on-Panel Displays. Lin, Chen-Wei;Huang, Jiun-Lang; Lin, Chen-Wei; Huang, Jiun-Lang; JIUN-LANG HUANG
國立交通大學 2014-12-12T02:36:50Z 低功耗前瞻靜態隨機記憶體之測試方法與錯誤模型 林政偉; Lin, Chen-Wei; 趙家佐; Chao, Chia-Tso
國立交通大學 2014-12-12T01:56:43Z 以摻雜小分子感光物製作寬波長感測範圍之有機光偵測器 林辰崴; Lin, Chen-Wei; 陳方中; 田仲豪; Chen, Fang-Chung; Tien, Chung-Hao
國立交通大學 2014-12-08T15:37:44Z Mathematical Yield Estimation for Two-Dimensional-Redundancy Memory Arrays Chao, Mango C. -T.; Chin, Ching-Yu; Lin, Chen-Wei
國立交通大學 2014-12-08T15:36:45Z Testing Methods for a Write-Assist Disturbance-Free Dual-Port SRAM Yang, Hao-Yu; Lin, Chen-Wei; Huang, Chao-Ying; Lu, Ching-Ho; Lai, Chen-An; Chao, Mango C. -T.; Huang, Rei-Fu
國立交通大學 2014-12-08T15:36:21Z Novel Circuit-Level Model for Gate Oxide Short and its Testing Method in SRAMs Lin, Chen-Wei; Chao, Mango C. -T.; Hsu, Chih-Chieh
國立交通大學 2014-12-08T15:33:46Z A Novel Pixel Design for AM-OLED Displays Using Nanocrystalline Silicon TFTs Lin, Chen-Wei; Chao, Mango C.-T.; Huang, Yen-Shih
國立交通大學 2014-12-08T15:33:13Z Investigation of Gate Oxide Short in FinFETs and the Test Methods for FinFET SRAMs Lin, Chen-Wei; Chao, Mango C. -T.; Hsu, Chih-Chieh
國立交通大學 2014-12-08T15:33:13Z Testing of a Low-V-MIN Data-Aware Dynamic-Supply 8T SRAM Lin, Chen-Wei; Huang, Chin-Yuan; Chao, Mango C. -T.

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