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机构 日期 题名 作者
國立交通大學 2014-12-08T15:35:46Z Low Temperature (< 180 degrees C) Wafer-level and Chip-level In-to-Cu and Cu-to-Cu Bonding for 3D Integration Chien, Yu-San; Huang, Yan-Pin; Tzeng, Ruoh-Ning; Shy, Ming-Shaw; Lin, Teu-Hua; Chen, Kou-Hua; Chuang, Ching-Te; Hwang, Wei; Chiou, Jin-Chern; Chiu, Chi-Tsung; Tong, Ho-Ming; Chen, Kuan-Neng
國立交通大學 2014-12-08T15:35:19Z Low-Temperature Bonded Cu/In Interconnect With High Thermal Stability for 3-D Integration Chien, Yu-San; Huang, Yan-Pin; Tzeng, Ruoh-Ning; Shy, Ming-Shaw; Lin, Teu-Hua; Chen, Kou-Hua; Chiu, Chi-Tsung; Chuang, Ching-Te; Hwang, Wei; Chiou, Jin-Chern; Tong, Ho-Ming; Chen, Kuan-Neng
國立交通大學 2014-12-08T15:35:16Z Low Temperature (< 180 degrees C) Bonding for 3D Integration Huang, Yan-Pin; Tzeng, Ruoh-Ning; Chien, Yu-San; Shy, Ming-Shaw; Lin, Teu-Hua; Chen, Kou-Hua; Chuang, Ching-Te; Hwang, Wei; Chiu, Chi-Tsung; Tong, Ho-Ming; Chen, Kuan-Neng
國立交通大學 2014-12-08T15:33:26Z Novel Cu-to-Cu Bonding With Ti Passivation at 180 degrees C in 3-D Integration Huang, Yan-Pin; Chien, Yu-San; Tzeng, Ruoh-Ning; Shy, Ming-Shaw; Lin, Teu-Hua; Chen, Kou-Hua; Chiu, Chi-Tsung; Chiou, Jin-Chern; Chuang, Ching-Te; Hwang, Wei; Tong, Ho-Ming; Chen, Kuan-Neng

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