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机构	日期	题名	作者
臺大學術典藏	2019-11-27T02:03:01Z	Synchrotron X-ray micro-diffraction analysis on microstructure evolution in Sn under electromigratton	C. ROBERT KAO;Tu K.N.;Kao C.R.;Lloyd J.R.;Tamura N.;Wu A.T.; Wu A.T.; Tamura N.; Lloyd J.R.; Kao C.R.; Tu K.N.; C. ROBERT KAO
國立臺灣大學	2004-09	The study of microstructure evolution of tin grains due to electromigration by using synchrotron X-ray microdiffraction	Wu, A. T.; Tu, K. N.; Lloyd, J. R.; Tamura, N.; Valek, B. C.; Kao, and C. R.

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