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机构	日期	题名	作者
國立成功大學	2014	Investigation of Low-Frequency Noise Characterization of 28-nm High-k pMOSFET with Embedded SiGe Source/Drain	Tsai, Shih-Chang; Wu, San-Lein; Chen, Jone-Fang; Wang, Bo-Chin; Huang, Po Chin; Tsai, Kai-Shiang; Kao, Tsung-Hsien; Yang, Chih-Wei; Chen, Cheng-Guo; Lo, Kun-Yuan; Cheng, Osbert; Fang, Yean-Kuen

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