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機構	日期	題名	作者
國立臺灣科技大學	2016	Enhanced Built-In Self-Repair Techniques for Improving Fabrication Yield and Reliability of Embedded Memories	Lu, S.-K;Tsai, C.-J;Hashizume, M.
國立臺灣科技大學	2016	A built-in test circuit for electrical interconnect testing of open defects in assembled PCBs	Widiant, Hashizume M;Suenaga, Suenaga S;Yotsuyanagi, H;Ono, A;Lu, S.-K;Roth, Z.
國立臺灣科技大學	2016	A power supply circuit for interconnect tests based on injected charge volume of 3D IC	Ohtani, K;Hashizume, M;Suga, D;Yotsuyanagi, H;Lu, S.-K.
國立臺灣科技大學	2016	A built-in defective level monitor of resistive open defects in 3D ICs with logic gates	Hashizume, M;Odoriba, A;Yotsuyanagi, H;Lu, S.-K.
國立臺灣科技大學	2016	Testability for resistive open defects by electrical interconnect test of 3D ICs without boundary scan flip flops	Ali, F.A.B;Hashizume, M;Ikiri, Y;Yotsuyanagi, H;Lu, S.-K.
國立臺灣科技大學	2016	Adaptive ECC Techniques for Yield and Reliability Enhancement of Flash Memories	Lu, S.-K;Zhong, S.-X;Hashizume, M.
國立臺灣科技大學	2016	An enhanced built-in self-repair technique for yield and reliability improvement of embedded memories	Lu, S.-K;Lin, H.-W;Hashizume, M.
國立臺灣科技大學	2015	Address scrambling and data inversion techniques for yield enhancement of NROM-Based ROMs	Lu, S.-K.;Li, T.-L.;Hashizume, M.;Chen, J.-L.
國立臺灣科技大學	2015	Electrical interconnect test method of 3D ICs by injected charge volume	Suga, D.;Hashizume, M.;Yotsuyanagi, H.;Lu, S.-K.
國立臺灣科技大學	2015	Hybrid scrambling technique for increasing the fabrication yield of NROM-Based ROMs	Lu, S.-K.;Lin, S.-L.;Lin, H.-W.;Hashizume, M.
國立臺灣科技大學	2015	Electrical interconnect test of 3D ICs made of dies without ESD protection circuits with a built-in test circuit	Nanbara, K.;Odoriba, A.;Hashizume, M.;Yotsuyanagi, H.;Lu, S.-K.
國立臺灣科技大學	2015	A testable design for electrical interconnect tests of 3D ICs	Odoriba, A.;Umezu, S.;Hashizume, M.;Yotsuyanagi, H.;Ali, F.A.B.;Lu, S.-K.
國立臺灣科技大學	2015	An enhanced built-in self-repair technique for yield and reliability improvement of embedded memories	Lu, S.-K;Lin, H.-W;Hashizume, M.
國立臺灣科技大學	2015	Electrical interconnect test method of 3D ICs without boundary scan flip flops	Hashizume, M;Umezu, S;Ikiri, Y;Ali, F.A.B;Yotsuyanagi, H;Lu, S.-K.
國立臺灣科技大學	2014	A power saving mechanism for multimedia streaming services in cloud computing	Ma, Y.-W.;Chen, J.-L.;Chou, C.-H.;Lu, S.-K.
國立臺灣科技大學	2013	Testable design for electrical testing of open defects at interconnects in 3D ICs	Hashizume, M.;Konishi, T.;Yotsuyanag, H.;Lu, S.-K.
國立臺灣科技大學	2013	Error-tolerance evaluation and design techniques for motion estimation computing arrays	Lu, S.-K.;Chen, M.-C.;Chen, Y.-C.
國立臺灣科技大學	2013	Efficient test and repair architectures for 3D TSV-based random access memories	Lu, S.-K.;Lu, U.-C.;Pong, S.-W.;Cheng, H.-C.
國立臺灣科技大學	2013	Reduction method of number of electromagnetic simulation times for estimating output voltage at hard open TSV in 3D IC	Haraguchi, E.;Hashizume, M.;Manabe, K.;Yotsuyanagi, H.;Tada, T.;Lu, S.-K.;Roth, Z.
國立臺灣科技大學	2013	Built-in IDDT appearance time sensor for detecting open faults in 3D IC	Suenaga, S.;Hashizume, M.;Yotsuyanagi, H.;Tada, T.;Lu, S.-K.
國立臺灣科技大學	2013	Fault scrambling techniques for yield enhancement of embedded memories	Lu, S.-K.;Jheng, H.-C.;Hashizume, M.;Huang, J.-L.;Ning, P.
國立臺灣科技大學	2013	DFT for supply current testing to detect open defects at interconnects in 3D ICs	Suenaga, S.;Hashizume, M.;Yotsuyanagi, H.;Lu, S.-K.;Roth, Z.
國立臺灣科技大學	2013	An efficient test and repair flow for yield enhancement of one-time-programming NROM-based ROMs	Li, T.-L.;Hashizume, M.;Lu, S.-K.
國立臺灣科技大學	2013	Synergistic reliability and yield enhancement techniques for embedded SRAMs	Lu, S.-K.;Huang, H.-H.;Huang, J.-L.;Ning, P.
國立臺灣科技大學	2012	Efficient built-in self-repair techniques for multiple repairable embedded RAMs	Lu, S.-K.;Wang, Z.-Y.;Tsai, Y.-M.;Chen, J.-L.
國立臺灣科技大學	2012	Improving reusability of test symbols for test data compression	Lu, S.-K.;Huang, Y.-C.
國立臺灣科技大學	2012	Scrambling and data inversion techniques for yield enhancement of NROM-Based ROMs	Lu, S.-K.;Li, T.-L.;Ning, P.
國立臺灣科技大學	2012	On test and repair of 3D random access memory	Wu, C.-W.; Lu, S.-K.; Li, J.-F.
國立臺灣科技大學	2012	Yield enhancement techniques for 3-dimensional random access memories	Lu, S.-K.;Chang, T.-W.;Hsu, H.-Y.
國立臺灣科技大學	2011	Speeding Up Emulation-Based Diagnosis Techniques for Logic Cores	Lu, S.K.;Chen, Y.M.;Huang, S.Y.;Wu, C.W.
國立臺灣科技大學	2009	Wireless built-in self-repair architectures for embedded RAMs	Wang Z.-Y; Tsai Y.-M.; Hsiao Y.-C.; Lu S.-K.
國立臺灣科技大學	2009	Built-in self-repair techniques for heterogeneous memory cores	Wang Z.-Y.; Tsai Y.-M.; Lu S.-K.
國立臺灣大學	1993-05	Enhancing testability of VLSI arrays for fast Fourier transform	Lu, S.-K.; Wu, C.-W.; Kuo, S.-Y.
國立臺灣大學	1992-03	Testable Design of Systolic Arrays for Discrete Cosine Transform	Lu, S. K.; Wu, C. W.; 郭斯彥; Lu, S. K.; Wu, C. W.; Kuo, Sy-Yen
臺大學術典藏	1992-03	Testable Design of Systolic Arrays for Discrete Cosine Transform	Wu, C. W.; Lu, S. K.; Kuo, Sy-Yen; Lu, S. K.; Wu, C. W.; 郭斯彥; Lu, S. K.; Kuo, Sy-Yen
國立臺灣大學	1992	Design of Easily Testable VLSI Arrays for Discrete Cosine Transform	Lu, S. K.; Wu, C. W.; 郭斯彥; Lu, S. K.; Wu, C. W.; Kuo, Sy-Yen
臺大學術典藏	1992	Design of Easily Testable VLSI Arrays for Discrete Cosine Transform	Lu, S. K.; Wu, C. W.; Kuo, Sy-Yen; Lu, S. K.; Wu, C. W.; 郭斯彥; Kuo, Sy-Yen
國立臺灣大學	1991-08	Design and Evaluation of Fault-Tolerant Interleaved Memory Systems	郭斯彥; Louri, A.; Liang, S. C.; Lu, S. K.; Wu, C. W.; Kuo, Sy-Yen; Louri, A.; Liang, S. C.; Lu, S. K.; Wu, C. W.
臺大學術典藏	1991-08	Design and Evaluation of Fault-Tolerant Interleaved Memory Systems	Lu, S. K.; Wu, C. W.; Kuo, Sy-Yen; Liang, S. C.; 郭斯彥; Liang, S. C.; Louri, A.; Louri, A.; Liang, S. C.; Lu, S. K.; Wu, C. W.; Kuo, Sy-Yen
國立臺灣大學	1988	Reproduction of Lobsters	Lu, S. K.; 郭欽明; Lu, S. K.; Kuo, Ching-Ming

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