|
English
|
正體中文
|
简体中文
|
總筆數 :2828315
|
|
造訪人次 :
32147454
線上人數 :
759
教育部委託研究計畫 計畫執行:國立臺灣大學圖書館
|
|
|
"lu tsung yi"的相關文件
顯示項目 1-8 / 8 (共1頁)
1
每頁顯示[10|25|50]項目
| 國立交通大學 |
2017-04-21T06:48:53Z |
Fluorinated HfO2 Gate Dielectrics Engineering for CMOS by pre- and post-CF4 Plasma Passivation
|
Wu, Woei-Chemg; Lai, Chao-Sung; Lee, Shih-Ching; Ma, Ming-Wen; Chao, Tien-Sheng; Wang, Jer-Chyi; Hsu, Chih-Wei; Chou, Pai-Chi; Chen, Jian-Hao; Kao, Kuo-Hsing; Lo, Wen-Cheng; Lu, Tsung-Yi; Tay, Li-Lin; Rowell, Nelson |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T01:25:14Z |
多重應力閘極之新穎應力記憶技術製作在n型金氧半場效電晶體之研究
|
呂宗宜; Lu, Tsung-Yi; 趙天生; Chao, Tien-Sheng |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T01:24:23Z |
適應性無線感測網路平台設計與實作
|
呂宗益; Lu, Tsung-Yi; 廖德誠; Liaw, Der-Cherng |
| 國立交通大學 |
2014-12-08T15:30:21Z |
Impacts of Multiple Strain-Gate Engineering on a Zero-Temperature-Coefficient Point
|
Chang, Tien-Shun; Lu, Tsung Yi; Chao, Tien-Sheng |
| 國立交通大學 |
2014-12-08T15:23:31Z |
Temperature Dependence of Electron Mobility on Strained nMOSFETs Fabricated by Strain-Gate Engineering
|
Chang, Tien-Shun; Lu, Tsung Yi; Chao, Tien-Sheng |
| 國立交通大學 |
2014-12-08T15:11:49Z |
Characterization of Enhanced Stress Memorization Technique on nMOSFETs by Multiple Strain-Gate Engineering
|
Lu, Tsung-Yi; Chang, Tien-Shun; Huang, Shih-An; Chao, Tien-Sheng |
| 國立交通大學 |
2014-12-08T15:10:21Z |
Enhancement of Stress-Memorization Technique on nMOSFETs by Multiple Strain-Gate Engineering
|
Lu, Tsung Yi; Wang, Chin Meng; Chao, Tien-Sheng |
| 國立臺灣海洋大學 |
2014 |
漸變式光子晶體奈米樑共振腔之聲光耦合研究
|
Lu, Tsung-Yi; 呂宗益 |
顯示項目 1-8 / 8 (共1頁)
1
每頁顯示[10|25|50]項目
|
