臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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机构	日期	题名	作者
元智大學	2009-11	Multi-Dimensional Pattern Run-Length Method for Test Data Compression	曾王道; 林榮彬; Lung-Jen Lee; Chen-Lun Lee
元智大學	2009-11	Deterministic Test Pattern Generation using Segmented LFSR	曾王道; 林榮彬; Lung-Jen Lee; You-An Chen
元智大學	2009-11	SOCs Test Scheduling using TAM Switch	曾王道; 林榮彬; Lung-Jen Lee; Zheng-Han Zhan
元智大學	2009-11	Don’t-Care Bits Filling for Capture Power Reduction	曾王道; 林榮彬; Lung-Jen Lee; Zheng-Yi Xie
元智大學	2009-11	An Efficient Method for Test Data Compression based on Internal Pattern Run-length	曾王道; 林榮彬; Lung-Jen Lee; Zheng-Han Zhan
元智大學	2009-10	A Method of Don’t-Care Bits Filling for Capture Power Reduction	曾王道; 林榮彬; Lung-Jen Lee; Zheng-Yi Xie
元智大學	2009-10	A Run-length based Compression Method for Multiple-Scan testing	曾王道; 林榮彬; Lung-Jen Lee; Cheng-Chi Yang; Ying-Chung Lai
元智大學	2009-10	Segmented LFSR for Deterministic Test Generations	曾王道; 林榮彬; Lung-Jen Lee; You-An Chen
元智大學	2009-10	TAM switch based test scheduling for core-based SOCs	曾王道; 林榮彬; Lung-Jen Lee; Zheng-Han Zhang
元智大學	2009-10	TAM switch based test scheduling for core-based SOCs	曾王道; 林榮彬; Lung-Jen Lee; Zheng-Han Zhang

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