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機構 日期 題名 作者
元智大學 2009-10 A Method of Don’t-Care Bits Filling for Capture Power Reduction 曾王道; 林榮彬; Lung-Jen Lee; Zheng-Yi Xie
元智大學 2009-10 A Run-length based Compression Method for Multiple-Scan testing 曾王道; 林榮彬; Lung-Jen Lee; Cheng-Chi Yang; Ying-Chung Lai
元智大學 2009-10 Segmented LFSR for Deterministic Test Generations 曾王道; 林榮彬; Lung-Jen Lee; You-An Chen
元智大學 2009-10 TAM switch based test scheduling for core-based SOCs 曾王道; 林榮彬; Lung-Jen Lee; Zheng-Han Zhang
元智大學 2009-10 TAM switch based test scheduling for core-based SOCs 曾王道; 林榮彬; Lung-Jen Lee; Zheng-Han Zhang
元智大學 2009-08 Reduction of Test Data Volume and Test Application Time by Scan Chain Disabling Technique 曾王道; 林榮彬; Lung-Jen Lee
元智大學 2008-07 Segmented Compression Method for Embedded Core Testing by Scan Chain Partitioning 曾王道; 林榮彬; Lung-Jen Lee; Yu-Hsien Wu
元智大學 2007-12 Reduction of Power Dissipation during Scan Testing by Test Vector Ordering 曾王道; Lung-Jen Lee
元智大學 2007-08 Don't-Care Bits Filling for Reducing Capture Power 曾王道; Lung-Jen Lee; Chun-Kai Hsu
元智大學 2007-08 Mismatch Address Index Encoding for Data Compression in Scan Test 曾王道; 林榮彬; Lung-Jen Lee; Hcc-Hang Jang
元智大學 2007-08 Reduction of Power Dissipation during Scan Testing by Test Vector Ordering 曾王道; Lung-Jen Lee
元智大學 2006 充分利用電路中必要之反閘改善連線延遲 李隆仁; Lung-Jen Lee

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