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機構 日期 題名 作者
元智大學 2011-12-02 Combination of Broadcast Scheme with Scan Tree Architecture for Test Data Compression Lung-Jen Lee; Wang-Dauh Tseng
元智大學 2011-12-02 A Deterministic ATPG for Low Power Testing Lung-Jen Lee; Chia-Cheng He ; Wang-Dauh Tseng
元智大學 2011-12 Mismatch address indexing for test data compression Lung-Jen Lee; Wang-Dauh Tseng; Lin R.-B.
元智大學 2011-06 An Internal Pattern Run-Length Methodology for Slice Encoding Lung-Jen Lee; Wang-Dauh Tseng; Lin R.-B.
元智大學 2010-12 Cascaded broadcasting for test data compression Cheng-Ho Chang; Lung-Jen Lee; Wang-Dauh Tseng; Lin R.-B.
元智大學 2010-12 2n Pattern run-length for test data compression Cheng-Ho Chang; Lung-Jen Lee; Wang-Dauh Tseng; Lin R.-B.
元智大學 2010-07 Deterministic built-in self-test using multiple linear feedback shift registers for test power and test volume reduction 曾王道; 林榮彬; Lung-Jen Lee
元智大學 2010-06 Test Data Compression Using Multi-dimensional Pattern Run-length Codes 曾王道; Lung-Jen Lee
元智大學 2010-03 Reduction of Power Dissipation During Scan Testing by Test Vector Ordering 曾王道; 林榮彬; Lung-Jen Lee
元智大學 2009-11 Deterministic Built-in Self-Test Using Multiple Linear Feedback Shift Registers for Low-Power Scan Testing 曾王道; 林榮彬; Lung-Jen Lee; Chi-Wei Y
元智大學 2009-11 Multi-Dimensional Pattern Run-Length Method for Test Data Compression 曾王道; 林榮彬; Lung-Jen Lee; Chen-Lun Lee
元智大學 2009-11 Deterministic Test Pattern Generation using Segmented LFSR 曾王道; 林榮彬; Lung-Jen Lee; You-An Chen
元智大學 2009-11 SOCs Test Scheduling using TAM Switch 曾王道; 林榮彬; Lung-Jen Lee; Zheng-Han Zhan
元智大學 2009-11 Don’t-Care Bits Filling for Capture Power Reduction 曾王道; 林榮彬; Lung-Jen Lee; Zheng-Yi Xie
元智大學 2009-11 An Efficient Method for Test Data Compression based on Internal Pattern Run-length 曾王道; 林榮彬; Lung-Jen Lee; Zheng-Han Zhan
元智大學 2009-10 A Method of Don’t-Care Bits Filling for Capture Power Reduction 曾王道; 林榮彬; Lung-Jen Lee; Zheng-Yi Xie
元智大學 2009-10 A Run-length based Compression Method for Multiple-Scan testing 曾王道; 林榮彬; Lung-Jen Lee; Cheng-Chi Yang; Ying-Chung Lai
元智大學 2009-10 Segmented LFSR for Deterministic Test Generations 曾王道; 林榮彬; Lung-Jen Lee; You-An Chen
元智大學 2009-10 TAM switch based test scheduling for core-based SOCs 曾王道; 林榮彬; Lung-Jen Lee; Zheng-Han Zhang
元智大學 2009-10 TAM switch based test scheduling for core-based SOCs 曾王道; 林榮彬; Lung-Jen Lee; Zheng-Han Zhang
元智大學 2009-08 Reduction of Test Data Volume and Test Application Time by Scan Chain Disabling Technique 曾王道; 林榮彬; Lung-Jen Lee
元智大學 2008-07 Segmented Compression Method for Embedded Core Testing by Scan Chain Partitioning 曾王道; 林榮彬; Lung-Jen Lee; Yu-Hsien Wu
元智大學 2007-12 Reduction of Power Dissipation during Scan Testing by Test Vector Ordering 曾王道; Lung-Jen Lee
元智大學 2007-08 Don't-Care Bits Filling for Reducing Capture Power 曾王道; Lung-Jen Lee; Chun-Kai Hsu
元智大學 2007-08 Mismatch Address Index Encoding for Data Compression in Scan Test 曾王道; 林榮彬; Lung-Jen Lee; Hcc-Hang Jang

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