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機構 日期 題名 作者
臺大學術典藏 2018-09-10T05:18:00Z Diffusioosmosis of an electrolyte solution along a plane wall HUAN-JANG KEH;Keh, H.J.;Ma, H.C.;HUAN-JANG KEH; Ma, H.C.; Keh, H.J.; HUAN-JANG KEH
國立交通大學 2014-12-08T15:39:27Z Use of Random Telegraph Signal as Internal Probe to Study Program/Erase Charge Lateral Spread in a SONOS Flash Memory Chou, Y. L.; Chiu, J. P.; Ma, H. C.; Wang, Tahui; Chao, Y. P.; Chen, K. C.; Lu, Chih-Yuan
國立交通大學 2014-12-08T15:21:22Z Investigation of Post-NBT Stress Current Instability Modes in HfSiON Gate Dielectric pMOSFETs by Measurement of Individual Trapped Charge Emissions Ma, H. C.; Chiu, J. P.; Tang, C. J.; Wang, Tahui; Chang, C. S.
國立交通大學 2014-12-08T15:21:21Z Program Charge Effect on Random Telegraph Noise Amplitude and Its Device Structural Dependence in SONOS Flash Memory Chiu, J. P.; Chou, Y. L.; Ma, H. C.; Wang, Tahui; Ku, S. H.; Zou, N. K.; Chen, Vincent; Lu, W. P.; Chen, K. C.; Lu, Chih-Yuan
國立交通大學 2014-12-08T15:08:23Z Program Trapped-Charge Effect on Random Telegraph-Noise Amplitude in a Planar SONOS Flash Memory Cell Ma, H. C.; Chou, Y. L.; Chiu, J. P.; Wang, Tahui; Ku, S. H.; Zou, N. K.; Chen, Vincent; Lu, W. P.; Chen, K. C.; Lu, Chih-Yuan

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