|
English
|
正體中文
|
简体中文
|
總筆數 :0
|
|
造訪人次 :
51996768
線上人數 :
1045
教育部委託研究計畫 計畫執行:國立臺灣大學圖書館
|
|
|
"ma h c"的相關文件
顯示項目 11-15 / 15 (共2頁) << < 1 2 每頁顯示[10|25|50]項目
| 臺大學術典藏 |
2018-09-10T05:18:00Z |
Diffusioosmosis of an electrolyte solution along a plane wall
|
HUAN-JANG KEH;Keh, H.J.;Ma, H.C.;HUAN-JANG KEH; Ma, H.C.; Keh, H.J.; HUAN-JANG KEH |
| 國立交通大學 |
2014-12-08T15:39:27Z |
Use of Random Telegraph Signal as Internal Probe to Study Program/Erase Charge Lateral Spread in a SONOS Flash Memory
|
Chou, Y. L.; Chiu, J. P.; Ma, H. C.; Wang, Tahui; Chao, Y. P.; Chen, K. C.; Lu, Chih-Yuan |
| 國立交通大學 |
2014-12-08T15:21:22Z |
Investigation of Post-NBT Stress Current Instability Modes in HfSiON Gate Dielectric pMOSFETs by Measurement of Individual Trapped Charge Emissions
|
Ma, H. C.; Chiu, J. P.; Tang, C. J.; Wang, Tahui; Chang, C. S. |
| 國立交通大學 |
2014-12-08T15:21:21Z |
Program Charge Effect on Random Telegraph Noise Amplitude and Its Device Structural Dependence in SONOS Flash Memory
|
Chiu, J. P.; Chou, Y. L.; Ma, H. C.; Wang, Tahui; Ku, S. H.; Zou, N. K.; Chen, Vincent; Lu, W. P.; Chen, K. C.; Lu, Chih-Yuan |
| 國立交通大學 |
2014-12-08T15:08:23Z |
Program Trapped-Charge Effect on Random Telegraph-Noise Amplitude in a Planar SONOS Flash Memory Cell
|
Ma, H. C.; Chou, Y. L.; Chiu, J. P.; Wang, Tahui; Ku, S. H.; Zou, N. K.; Chen, Vincent; Lu, W. P.; Chen, K. C.; Lu, Chih-Yuan |
顯示項目 11-15 / 15 (共2頁) << < 1 2 每頁顯示[10|25|50]項目
|