臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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机构	日期	题名	作者
國立臺灣大學	2007	Charge storage characteristics of atomic layer deposited RuOx nanocrystals	Maikap, S.; Wang, T. Y.; Tzeng, P. J.; Lin, C. H.; Lee, L. S.; Yang, J. R.; Tsai, M. J.
國立臺灣大學	2007	HfO2/HfAlO/HfO2 nanolaminate charge trapping layers for high-performance nonvolatile memory device applications	Maikap, S.; Tzeng, P. J.; Wang, T. Y.; Lee, H. Y.; Lin, C. H.; Wang,? C. C.; Lee, L. S.; Yang, J. R.; Tsai, M. J.
國立臺灣大學	2007	Hole mobility enhancement of Si0.2Ge0.8 quantum well channel on Si	Peng, C.-Y.; Yuan, F.; Yu, C.-Y.; Kuo, P.-S.; Lee, M. H.; Maikap, S.; Hsu, C.-H.; Liu, C. W.
國立臺灣大學	2006	Hole confinement at Si/SiGe heterojunction of strained-Si N and PMOS devices	Wei, J.-Y.; Maikap, S.; Lee, M.H.; Lee, C.C.; Liu, C.W.
國立臺灣大學	2006	Hole confinement at Si/SiGe heterojunction of strained-Si N and PMOS devices	Wei, J.-Y.; Maikap, S.; Lee, M.H.; Lee, C.C.; Liu, C.W.
國立臺灣大學	2005-05	Recent Progress in Mobility-enhancement Technologies	Liu, C. W.; Maikap, S.; Yu, C.-Y.
國立臺灣大學	2005	Abnormal hole mobility of biaxial strained Si	Liao, M. H.; Chang, S. T.; Lee, M. H.; Maikap, S.; Liu, C. W.
國立臺灣大學	2004-10	Ge Outdiffusion Effect on Flicker Noise in Strained-Si nMOSFETs	Hua, W.C.; Lee, M.H.; Chen, P.S.; Maikap, S.; Liu, C.W.; Chen, K.M.
國立臺灣大學	2004	Mechanically strained Si/SiGe HBTs	Yuan, F.; Jan, S.-R.; Maikap, S.; Liu, Y.-H.; Liang, C.-S.; Liu, C.W.
國立臺灣大學	2004	Mechanically strained strained-Si NMOSFETs	Maikap, S.; Yu, C.-Y.; Jan, S.-R.; Lee, M.H.; Liu, C.W.
國立臺灣大學	2004	Evidence of Si/SiGe heterojunction roughness scattering	Liu, C. W.; Lee, M. H.; Lee, Y. C.; Chen, P. S.; Yu, C.-Y.; Wei, J.-Y.; Maikap, S.
臺大學術典藏	2004	Evidence of Si/SiGe heterojunction roughness scattering	Liu, C. W.; Lee, M. H.; Lee, Y. C.; Chen, P. S.; Yu, C.-Y.; Wei, J.-Y.; Maikap, S.Liucw; Liu, C. W.; Lee, M. H.; Lee, Y. C.; Chen, P. S.; Yu, C.-Y.; Wei, J.-Y.; Maikap, S.; LiuCW

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