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机构	日期	题名	作者
國立成功大學	2011-12	Accelerated Destructive Degradation Tests Robust to Distribution Misspecification	Jeng, Shuen-Lin; Huang, Bei-Ying; Meeker, William Q.
國立成功大學	2011-12	Accelerated Destructive Degradation Tests Robust to Distribution Misspecification	鄭順林; JENG, SHUEN-LIN; Jeng, Shuen-Lin;Huang, Bei-Ying;Meeker, William Q.
國立成功大學	1998-05	Accelerated degradation tests: Modeling and analysis	Meeker, William Q.; Escobar, Luis A.; Lu, Chi-Hsien Joseph

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