臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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机构	日期	题名	作者
義守大學	2009-06	Low-capacitance ESD protection design for high-speed I/O interfaces in a 130-nm CMOS process	Yuan-Wen Hsiao;Ming-Dou Ker
義守大學	2009-06	Transient-Induced Latchup in CMOS ICs Under Electrical Fast-Transient Test	Cheng-Cheng Yen;Ming-Dou Ker;Tung-Yang Chen
義守大學	2009-06	The Effect of IEC-Like Fast Transients on RC-Triggered ESD Power Clamps	Cheng-Cheng Yen;Ming-Dou Ker
義守大學	2009-05	Area-Efficient ESD-Transient Detection Circuit With Smaller Capacitance for On-Chip Power-Rail ESD Protection in CMOS ICs	Shih-Hung Chen;Ming-Dou Ker
義守大學	2009-05	A 5-GHz Differential Low-Noise Amplifier With High Pin-to-Pin ESD Robustness in a 130-nm CMOS Process	Yuan-Wen Hsiao;Ming-Dou Ker
義守大學	2009-05	Design of Mixed-Voltage-Tolerant Crystal Oscillator Circuit in Low-Voltage CMOS Technology	Tzu-Ming Wang; Ming-Dou Ker; Hung-Tai Liao
義守大學	2009-04	High-Voltage nLDMOS in Waffle-Layout Style With Body-Injected Technique for ESD Protection	Wen-Yi Chen;Ming-Dou Ker
義守大學	2009-03	Impedance-Isolation Technique for ESD Protection Design in RF Integrated Circuits	Ming-Dou KER;Yuan-Wen HSIAO
義守大學	2009-03	Design of High-Voltage-Tolerant ESD Protection Circuit in Low-Voltage CMOS Processes	Ming-Dou Ker;Chang-Tzu Wang
義守大學	2009-03	Design of Power-Rail ESD Clamp Circuit With Ultra-Low Standby Leakage Current in Nanoscale CMOS Technology	Chang-Tzu Wang;Ming-Dou Ker
義守大學	2008-12	Investigation on Board-Level CDM ESD Issue in IC Products	Ming-Dou Ker;Yuan-Wen Hsiao
義守大學	2008-11	Investigation on Robustness of CMOS Devices Against Cable Discharge Event (CDE) Under Different Layout Parameters in a Deep-Submicrometer CMOS Technology	Ming-Dou Ker;Tai-Hsiang Lai
義守大學	2008-11	Investigation and Design of On-Chip Power-Rail ESD Clamp Circuits Without Suffering Latchup-Like Failure During System-Level ESD Test	Ming-Dou Ker;Cheng-Cheng Yen

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