臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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机构	日期	题名	作者
義守大學	2010-11	Relationship between wafer edge design and its ultimate mechanical strength	Po-Ying Chen ;Ming-Hsing Tsai;Wen-Kuan Yeh;Ming-Haw Jing;Yukon Chang
義守大學	2010-10	Relationship between wafer fracture reduction and controlling during the edge manufacturing process	Po-Ying Chen;Ming-Hsing Tsai;Wen-Kuan Yeh;Ming-Haw Jing;Yukon Chang
義守大學	2010-02	Relationship between wafer fracture reduction and controlling during the edge manufacturing process	Po-Ying Chen; Ming-Hsing Tsai; Wen-Kuan Yeh; Ming-Haw Jing; Yukon Chang
義守大學	2009-12	Investigation of the Relationship between Whole -Wafer Strength and Control of its Edge Engineering	Po-Ying Chen;Ming-Hsing Tsai;Wen-Kuan Yeh;Ming-Haw Jing;Yukon Chang
義守大學	2009-03	The Impact of Strain Technology on FUSI Gate SOI CMOSFET	Wen-Kuan Yeh;Jean-An Wang;Ming-Hsing Tsai;Chien-Ting Lin;Po-Ying Chen

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