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臺大學術典藏 2019-12-27T07:49:27Z Atomic-layer-deposited Al2O3 and HfO2 on GaN: A comparative study on interfaces and electrical characteristics Chang, Y.C.;Huang, M.L.;Chang, Y.H.;Lee, Y.J.;Chiu, H.C.;Kwo, J.;Hong, M.; Chang, Y.C.; Huang, M.L.; Chang, Y.H.; Lee, Y.J.; Chiu, H.C.; Kwo, J.; Hong, M.; MINGHWEI HONG
臺大學術典藏 2019-12-27T07:49:27Z In situ atomic layer deposition and synchrotron-radiation photoemission study of Al2O3 on pristine n-GaAs(0 0 1)-4 ? 6 surface Chang, Y.H.;Huang, M.L.;Chang, P.;Shen, J.Y.;Chen, B.R.;Hsu, C.L.;Pi, T.W.;Hong, M.;Kwo, J.; Chang, Y.H.; Huang, M.L.; Chang, P.; Shen, J.Y.; Chen, B.R.; Hsu, C.L.; Pi, T.W.; Hong, M.; Kwo, J.; MINGHWEI HONG
臺大學術典藏 2019-12-27T07:49:27Z Direct measurement of interfacial structure in epitaxial Gd 2O3 on GaAs (0 0 1) using scanning tunneling microscopy Shen, J.Y.; Huang, M.L.; Lee, W.C.; Chang, P.; Chiang, T.H.; Hong, M.; Kwo, J.; MINGHWEI HONG; Huang, B.C.; Chiu, Y.P.; Shih, M.C.; Chiu, Y.P.;Shih, M.C.;Huang, B.C.;Shen, J.Y.;Huang, M.L.;Lee, W.C.;Chang, P.;Chiang, T.H.;Hong, M.;Kwo, J.
臺大學術典藏 2019-12-27T07:49:27Z MBE - Enabling technology beyond Si CMOS Chang, P.;Lee, W.C.;Lin, T.D.;Hsu, C.H.;Kwo, J.;Hong, M.; Chang, P.; Lee, W.C.; Lin, T.D.; Hsu, C.H.; Kwo, J.; Hong, M.; MINGHWEI HONG
臺大學術典藏 2019-12-27T07:49:25Z Atomic-scale determination of band offsets at the Gd2O 3/GaAs (100) hetero-interface using scanning tunneling spectroscopy Chiu, Y.P.;Huang, B.C.;Shih, M.C.;Shen, J.Y.;Chang, P.;Chang, C.S.;Huang, M.L.;Tsai, M.-H.;Hong, M.;Kwo, J.; Chiu, Y.P.; Huang, B.C.; Shih, M.C.; Shen, J.Y.; Chang, P.; Chang, C.S.; Huang, M.L.; Tsai, M.-H.; Hong, M.; Kwo, J.; MINGHWEI HONG
臺大學術典藏 2019-12-27T07:49:25Z Self-aligned inversion-channel In0.53Ga0.47As Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistors with In-situ Deposited Al2O3/Y2O3 as gate dielectrics Chang, P.;Chiu, H.-C.;Lin, T.-D.;Huang, M.-L.;Wen-Hsin Chang;Wu, S.-Y.;Wu, K.-H.;Hong, M.;Kwo, J.; Chang, P.; Chiu, H.-C.; Lin, T.-D.; Huang, M.-L.; Wen-Hsin Chang, Wu, S.-Y.; Wu, K.-H.; Hong, M.; Kwo, J.; MINGHWEI HONG
臺大學術典藏 2019-12-27T07:49:25Z Achieving a low interfacial density of states with a flat distribution in high-K Ga2O3(Gd2O3) directly deposited on Ge Lin, C.;Lin, H.;Chiang, T.;Chu, R.;Chu, L.;Lin, T.;Chang, Y.;Wang, W.-E.;Kwo, J.R.;Hong, M.; Lin, C.; Lin, H.; Chiang, T.; Chu, R.; Chu, L.; Lin, T.; Chang, Y.; Wang, W.-E.; Kwo, J.R.; Hong, M.; MINGHWEI HONG
臺大學術典藏 2019-12-27T07:49:25Z Defect density reduction of the Al2O3/GaAs(001) interface by using H2S molecular beam passivation Merckling, C.;Chang, Y.C.;Lu, C.Y.;Penaud, J.;Brammertz, G.;Scarrozza, M.;Pourtois, G.;Kwo, J.;Hong, M.;Dekoster, J.;Meuris, M.;Heyns, M.;Caymax, M.; Merckling, C.; Chang, Y.C.; Lu, C.Y.; Penaud, J.; Brammertz, G.; Scarrozza, M.; Pourtois, G.; Kwo, J.; Hong, M.; Dekoster, J.; Meuris, M.; Heyns, M.; Caymax, M.; MINGHWEI HONG
臺大學術典藏 2019-12-27T07:49:25Z Low interfacial trap density and sub-nm equivalent oxide thickness in In0.53Ga0.47As (001) metal-oxide-semiconductor devices using molecular beam deposited HfO2/Al2O3 as gate dielectrics Chu, L.K.;Merckling, C.;Alian, A.;Dekoster, J.;Kwo, J.;Hong, M.;Caymax, M.;Heyns, M.; Chu, L.K.; Merckling, C.; Alian, A.; Dekoster, J.; Kwo, J.; Hong, M.; Caymax, M.; Heyns, M.; MINGHWEI HONG
臺大學術典藏 2019-12-27T07:49:24Z Surface-atom core-level shift in GaAs(111)A-2 MINGHWEI HONG; Kwo, J.; Hong, M.; Wertheim, G.K.; Chiang, T.-H.; Huang, M.-L.; Chen, B.-R.; Pi, T.-W.

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