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機構 日期 題名 作者
國立交通大學 2019-04-02T05:58:50Z Physical and electrical characterization of ZrO2 gate insulators deposited on Si(100) using Zr(O-i-Pr)(2)(thd)(2) and O-2 Chen, HW; Huang, TY; Landheer, D; Wu, X; Moisa, S; Sproule, GI; Chao, TS
國立交通大學 2014-12-08T15:42:26Z Characterization of thin ZrO2 films deposited using Zr(O '-Pr)(2)(thd)(2) and O-2 on Si(100) Chen, HW; Landheer, D; Wu, X; Moisa, S; Sproule, GI; Chao, TS; Huang, TY
國立交通大學 2014-12-08T15:42:21Z Physical and electrical characterization of ZrO(2) gate insulators deposited on Si(100) using Zr(O(i)-Pr)(2)(thd)(2) and O(2) Chen, HW; Huang, TY; Landheer, D; Wu, X; Moisa, S; Sproule, GI; Chao, TS
國立交通大學 2014-12-08T15:40:41Z Ultrathin zirconium silicate films deposited on Si(100) using Zr(O(i)-Pr)(2)(thd)(2), Si(O(t)-Bu)(2)(thd)(2), and nitric oxide Chen, HW; Huang, TY; Landheer, D; Wu, X; Moisa, S; Sproule, GI; Kim, JK; Lennard, WN; Chao, TS

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