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機構 日期 題名 作者
臺大學術典藏 2018-09-10T08:42:00Z In situ beam drift detection using a two-dimensional electron-beam position monitoring system for multiple-electron-beam-direct-write lithography Tsai, Kuen-Yu; Ng, Philip C.W.; Ng, Hoi-Tou; Liu, Chun-Hung; Shen, Yu-Tian; Kuan, Chieh-Hsiung; Chen, Yung-Yaw; Kuo, Yi-Hung; Wu, Cheng-Ju; Yen, Jia-Yush; Chen, S.-Y.; CHIEH-HSIUNG KUAN; Tsai, Kuen-Yu; YUNG-YAW CHEN; JIA-YUSH YENet al.
國立臺灣大學 2011 In situ beam drift detection using a two-dimensional electron-beam position monitoring system for multiple-electron-beam-direct-write lithography Chen, Sheng-Yung; Tsai, Kuen-Yu; Ng, Philip C.W.; Ng, Hoi-Tou; Liu, Chun-Hung; Shen, Yu-Tian; Kuan, Chieh-Hsiung; Chen, Yung-Yaw; Kuo, Yi-Hung; Wu, Cheng-Ju; Yen, Jia-Yush
國立臺灣大學 2009 基於直接蒙地卡羅方法之電子束微影圖像模擬及其於電子光學系統優化設計之應用 伍海濤; Ng, Hoi-Tou

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