|
|
???tair.name??? >
???browser.page.title.author???
|
"paganis s"???jsp.browse.items-by-author.description???
Showing items 1-25 of 55 (3 Page(s) Totally)
1 2 3 > >>
View [10|25|50] records per page
| 國立成功大學 |
2023 |
Search for e→τ charged lepton flavor violation at the EIC with the ECCE detector
|
Zhang, J.-L.;Mantry, S.;Adkins, J.K.;Akiba, Y.;Albataineh, Albataineh A.;Amaryan, M.;Arsene, I.C.;Gayoso, C.A.;Bae, J.;Bai, X.;Baker, M.D.;Bashkanov, M.;Bellwied, R.;Benmokhtar, F.;Berdnikov, V.;Bernauer, J.C.;Bock, F.;Boeglin, W.;Borysova, M.;Brash, E.;Brindza, P.;Briscoe, W.J.;Brooks, M.;Bueltmann, S.;Bukhari, M.H.S.;Bylinkin, A.;Capobianco, R.;Chang, W.-C.;Cheon, Y.;Chen, K.;Chen, K.-F.;Cheng, K.-Y.;Chiu, M.;Chujo, T.;Citron, Z.;Cline, E.;Cohen, E.;Cormier, T.;Corrales, Morales Y.;Cotton, Cotton C.;Crafts, J.;Crawford, Crawford C.;Creekmore, S.;Cuevas, Cuevas C.;Cunningham, J.;David, G.;Dean, C.T.;Demarteau, M.;Diehl, S.;Doshita, N.;Dupré, R.;Durham, J.M.;Dzhygadlo, R.;Ehlers, R.;El, Fassi L.;Emmert, A.;Ent, R.;Fanelli, C.;Fatemi, R.;Fegan, S.;Finger, M.;Frantz, J.;Friedman, M.;Friscic, I.;Gangadharan, D.;Gardner, S.;Gates, K.;Geurts, F.;Gilman, R.;Glazier, D.;Glimos, E.;Goto, Y.;Grau, N.;Greene, S.V.;Guo, A.Q.;Guo, L.;Ha, S.K.;Haggerty, J.;Hayward, T.;He, X.;Hen, O.;Higinbotham, D.W.;Hoballah, M.;Horn, T.;Hoghmrtsyan, A.;Hsu, P.-H.J.;Huang, J.;Huber, G.;Hutson, A.;Hwang, K.Y.;Hyde, C.E.;Inaba, M.;Iwata, T.;Jo, H.S.;Joo, K.;Kalantarians, N.;Kalicy, G.;Kawade, Kawade K.;Kay, S.J.D.;Kim, A.;Kim, B.;Kim, C.;Kim, M.;Kim, Y.;Kistenev, E.;Klimenko, V.;Ko, S.H.;Korover, I.;Korsch, W.;Krintiras, G.;Kuhn, S.;Kuo, C.-M.;Kutz, T.;Lajoie, J.;Lawrence, D.;Lebedev, S.;Lee, H.;Lee, J.S.H.;Lee, S.W.;Lee, Y.-J.;Li, W.;Li, W.B.;Li, X.;Liang, Y.T.;Lim, S.;Lin, C.-H.;Lin, D.X.;Liu, K.;Liu, M.X.;Livingston, K.;Liyanage, N.;Llope, W.J.;Loizides, C.;Long, E.;Lu, R.-S.;Lu, Z.;Lynch, W.;Marchand, D.;Marcisovsky, Marcisovsky M.;Markert, C.;Markowitz, P.;Marukyan, H.;McGaughey, P.;Mihovilovic, Mihovilovic M.;Milner, R.G.;Milov, A.;Miyachi, Y.;Mkrtchyan, A.;Mkrtchyan, H.;Monaghan, P.;Montgomery, R.;Morrison, D.;Movsisyan, A.;Munoz, Camacho C.;Murray, Murray M.;Nagai, K.;Nagle, J.;Nakagawa, I.;Nattrass, C.;Nguyen, D.;Niccolai, S.;Nouicer, R.;Nukazuka, G.;Nycz, M.;Okorokov, V.A.;Orešić, S.;Osborn, J.D.;O'Shaughnessy, C.;Paganis, S.;Papandreou, Z.;Pate, S.F.;Patel, M.;Paus, C.;Penman, G.;Perdekamp, M.G.;Perepelitsa, D.V.;Periera, da Costa H.;Peters, K.;Phelps, W.;Piasetzky, E.;Pinkenburg, C.;Prochazka, I.;Protzman, T.;Purschke, M.L.;Putschke, J.;Pybus, J.R.;Rajput-Ghoshal, Rajput-Ghoshal R.;Rasson, J.;Raue, B.;Read, K.F.;Røed, K.;Reed, Reed R.;Reinhold, J.;Renner, E.L.;Richards, J.;Riedl, C.;Rinn, T.;Roche, J.;Roland, G.M.;Ron, G.;Rosati, M.;Royon, C.;Ryu, J.;Salur, Salur S.;Santiesteban, N.;Santos, R.;Sarsour, M.;Schambach, J.;Schmidt, A.;Schmidt, N.;Schwarz, C.;Schwiening, J.;Seidl, R.;Sickles, A.;Simmerling, P.;Sirca, Sirca S.;Sharma, D.;Shi, Z.;Shibata, T.-A.;Shih, C.-W.;Shimizu, Shimizu S.;Shrestha, U.;Slifer, K.;Smith, K.;Sokhan, D.;Soltz, R.;Sondheim, W.;Song, J.;Strakovsky, I.I.;Steinberg, P.;Stepanov, P.;Stevens, J.;Strube, J.;Sun, P.;Sun, X.;Suresh, K.;Tadevosyan, V.;Tang, W.-C.;Tapia, Araya S.;Tarafdar, S.;Teodorescu, L.;Thomas, D.;Timmins, A.;Tomasek, L.;Trotta, N.;Trotta, R.;Tveter, Tveter T.S.;Umaka, E.;Usman, A.;van, Hecke H.W.;Van, Hulse C.;Velkovska, J.;Voutier, E.;Wang, P.K.;Wang, Q.;Wang, Y.;Watts, D.P.;Wickramaarachchi, N.;Weinstein, L.;Williams, M.;Wong, C.-P.;Wood, L.;Wood, M.H.;Woody, C.;Wyslouch, B.;Xiao, Z.;Yamazaki, Yamazaki Y.;Yang, Yang Y.;Ye, Z.;Yoo, H.D.;Yurov, M.;Zachariou, N.;Zajc, W.A.;Zha, W.;Zhang, J.-X.;Zhang, Y.;Zhao, Y.-X.;Zheng, X.;Zhuang, P. |
| 國立成功大學 |
2023 |
ECCE sensitivity studies for single hadron transverse single spin asymmetry measurements
|
Seidl, R.;Vladimirov, A.;Pitonyak, D.;Prokudin, A.;Adkins, J.K.;Akiba, Y.;Albataineh, Albataineh A.;Amaryan, M.;Arsene, I.C.;Gayoso, C.A.;Bae, J.;Bai, X.;Baker, M.D.;Bashkanov, M.;Bellwied, R.;Benmokhtar, F.;Berdnikov, V.;Bernauer, J.C.;Bock, F.;Boeglin, W.;Borysova, M.;Brash, E.;Brindza, P.;Briscoe, W.J.;Brooks, M.;Bueltmann, S.;Bukhari, M.H.S.;Bylinkin, A.;Capobianco, R.;Chang, W.-C.;Cheon, Y.;Chen, K.;Chen, K.-F.;Cheng, K.-Y.;Chiu, M.;Chujo, T.;Citron, Z.;Cline, E.;Cohen, E.;Cormier, T.;Morales, Y.C.;Cotton, Cotton C.;Crafts, J.;Crawford, Crawford C.;Creekmore, S.;Cuevas, Cuevas C.;Cunningham, J.;David, G.;Dean, C.T.;Demarteau, M.;Diehl, S.;Doshita, N.;Dupré, R.;Durham, J.M.;Dzhygadlo, R.;Ehlers, R.;El, Fassi L.;Emmert, A.;Ent, R.;Fanelli, C.;Fatemi, R.;Fegan, S.;Finger, M.;Frantz, J.;Friedman, M.;Friscic, I.;Gangadharan, D.;Gardner, S.;Gates, K.;Geurts, F.;Gilman, R.;Glazier, D.;Glimos, E.;Goto, Y.;Grau, N.;Greene, S.V.;Guo, A.Q.;Guo, L.;Ha, S.K.;Haggerty, J.;Hayward, T.;He, X.;Hen, O.;Higinbotham, D.W.;Hoballah, M.;Horn, T.;Hoghmrtsyan, A.;Hsu, P.-H.J.;Huang, J.;Huber, G.;Hutson, A.;Hwang, K.Y.;Hyde, C.E.;Inaba, M.;Iwata, T.;Jo, H.S.;Joo, K.;Kalantarians, N.;Kalicy, G.;Kawade, Kawade K.;Kay, S.J.D.;Kim, A.;Kim, B.;Kim, C.;Kim, M.;Kim, Y.;Kistenev, E.;Klimenko, V.;Ko, S.H.;Korover, I.;Korsch, W.;Krintiras, G.;Kuhn, S.;Kuo, C.-M.;Kutz, T.;Lajoie, J.;Lawrence, D.;Lebedev, S.;Lee, H.;Lee, J.S.H.;Lee, S.W.;Lee, Y.-J.;Li, W.;Li, W.B.;Li, X.;Liang, Y.T.;Lim, S.;Lin, C.-H.;Lin, D.X.;Liu, K.;Liu, M.X.;Livingston, K.;Liyanage, N.;Llope, W.J.;Loizides, C.;Long, E.;Lu, R.-S.;Lu, Z.;Lynch, W.;Mantry, S.;Marchand, D.;Marcisovsky, Marcisovsky M.;Markert, C.;Markowitz, P.;Marukyan, H.;McGaughey, P.;Mihovilovic, Mihovilovic M.;Milner, R.G.;Milov, A.;Miyachi, Y.;Mkrtchyan, A.;Monaghan, P.;Montgomery, R.;Morrison, D.;Movsisyan, A.;Mkrtchyan, H.;Camacho, Camacho C.M.;Murray, Murray M.;Nagai, K.;Nagle, J.;Nakagawa, I.;Nattrass, C.;Nguyen, D.;Niccolai, S.;Nouicer, R.;Nukazuka, G.;Nycz, M.;Okorokov, V.A.;Orešić, S.;Osborn, J.D.;O'Shaughnessy, C.;Paganis, S.;Papandreou, Z.;Pate, S.F.;Patel, M.;Paus, C.;Penman, G.;Perdekamp, M.G.;Perepelitsa, D.V.;da, Costa H.P.;Peters, K.;Phelps, W.;Piasetzky, E.;Pinkenburg, C.;Prochazka, I.;Protzman, T.;Purschke, M.L.;Putschke, J.;Pybus, J.R.;Rajput-Ghoshal, Rajput-Ghoshal R.;Rasson, J.;Raue, B.;Read, K.F.;Røed, K.;Reed, Reed R.;Reinhold, J.;Renner, E.L.;Richards, J.;Riedl, C.;Rinn, T.;Roche, J.;Roland, G.M.;Ron, G.;Rosati, M.;Royon, C.;Ryu, J.;Salur, Salur S.;Santiesteban, N.;Santos, R.;Sarsour, M.;Schambach, J.;Schmidt, A.;Schmidt, N.;Schwarz, C.;Schwiening, J.;Sickles, A.;Simmerling, P.;Sirca, Sirca S.;Sharma, D.;Shi, Z.;Shibata, T.-A.;Shih, C.-W.;Shimizu, Shimizu S.;Shrestha, U.;Slifer, K.;Smith, K.;Sokhan, D.;Soltz, R.;Sondheim, W.;Song, J.;Strakovsky, I.I.;Steinberg, P.;Stepanov, P.;Stevens, J.;Strube, J.;Sun, P.;Sun, X.;Suresh, K.;Tadevosyan, V.;Tang, W.-C.;Araya, S.T.;Tarafdar, S.;Teodorescu, L.;Thomas, D.;Timmins, A.;Tomasek, L.;Trotta, N.;Trotta, R.;Tveter, Tveter T.S.;Umaka, E.;Usman, A.;van, Hecke H.W.;Van, Hulse C.;Velkovska, J.;Voutier, E.;Wang, P.K.;Wang, Q.;Wang, Y.;Watts, D.P.;Wickramaarachchi, N.;Weinstein, L.;Williams, M.;Wong, C.-P.;Wood, L.;Wood, M.H.;Woody, C.;Wyslouch, B.;Xiao, Z.;Yamazaki, Yamazaki Y.;Yang, Yang Y.;Ye, Z.;Yoo, H.D.;Yurov, M.;Zachariou, N.;Zajc, W.A.;Zha, W.;Zhang, J.-L.;Zhang, J.-X.;Zhang, Y.;Zhao, Y.-X.;Zheng, X.;Zhuang, P. |
| 國立成功大學 |
2023 |
Design and simulated performance of calorimetry systems for the ECCE detector at the electron ion collider
|
Bock, F.;Schmidt, N.;Wang, P.K.;Santiesteban, N.;Horn, T.;Huang, J.;Lajoie, J.;Munoz, Camacho C.;Adkins, J.K.;Akiba, Y.;Albataineh, Albataineh A.;Amaryan, M.;Arsene, I.C.;Ayerbe, Gayoso C.;Bae, J.;Bai, X.;Baker, M.D.;Bashkanov, M.;Bellwied, R.;Benmokhtar, F.;Berdnikov, V.;Bernauer, J.C.;Boeglin, W.;Borysova, M.;Brash, E.;Brindza, P.;Briscoe, W.J.;Brooks, M.;Bueltmann, S.;Bukhari, M.H.S.;Bylinkin, A.;Capobianco, R.;Chang, W.-C.;Cheon, Y.;Chen, K.;Chen, K.-F.;Cheng, K.-Y.;Chiu, M.;Chujo, T.;Citron, Z.;Cline, E.;Cohen, E.;Cormier, T.;Corrales, Morales Y.;Cotton, Cotton C.;Crafts, J.;Crawford, Crawford C.;Creekmore, S.;Cuevas, Cuevas C.;Cunningham, J.;David, G.;Dean, C.T.;Demarteau, M.;Diehl, S.;Doshita, N.;Dupré, R.;Durham, J.M.;Dzhygadlo, R.;Ehlers, R.;El, Fassi L.;Emmert, A.;Ent, R.;Fanelli, C.;Fatemi, R.;Fegan, S.;Finger, M.;Frantz, J.;Friedman, M.;Friscic, I.;Gangadharan, D.;Gardner, S.;Gates, K.;Geurts, F.;Gilman, R.;Glazier, D.;Glimos, E.;Goto, Y.;Grau, N.;Greene, S.V.;Guo, A.Q.;Guo, L.;Ha, S.K.;Haggerty, J.;Hayward, T.;He, X.;Hen, O.;Higinbotham, D.W.;Hoballah, M.;Hoghmrtsyan, A.;Hsu, P.-H.J.;Huber, G.;Hutson, A.;Hwang, K.Y.;Hyde, C.E.;Inaba, M.;Iwata, T.;Jo, H.S.;Joo, K.;Kalantarians, N.;Kalicy, G.;Kawade, Kawade K.;Kay, S.J.D.;Kim, A.;Kim, B.;Kim, C.;Kim, M.;Kim, Y.;Kistenev, E.;Klimenko, V.;Ko, S.H.;Korover, I.;Korsch, W.;Krintiras, G.;Kuhn, S.;Kuo, C.-M.;Kutz, T.;Lawrence, D.;Lebedev, S.;Lee, H.;Lee, J.S.H.;Lee, S.W.;Lee, Y.-J.;Li, W.;Li, W.B.;Li, X.;Liang, Y.T.;Lim, S.;Lin, C.-H.;Lin, D.X.;Liu, K.;Liu, M.X.;Livingston, K.;Liyanage, N.;Llope, W.J.;Loizides, C.;Long, E.;Lu, R.-S.;Lu, Z.;Lynch, W.;Mantry, S.;Marchand, D.;Marcisovsky, Marcisovsky M.;Markert, C.;Markowitz, P.;Marukyan, H.;McGaughey, P.;Mihovilovic, Mihovilovic M.;Milner, R.G.;Milov, A.;Miyachi, Y.;Mkrtchyan, A.;Monaghan, P.;Montgomery, R.;Morrison, D.;Movsisyan, A.;Mkrtchyan, H.;Murray, Murray M.;Nagai, K.;Nagle, J.;Nakagawa, I.;Nattrass, C.;Nguyen, D.;Niccolai, S.;Nouicer, R.;Nukazuka, G.;Nycz, M.;Okorokov, V.A.;Orešić, S.;Osborn, J.D.;O'Shaughnessy, C.;Paganis, S.;Papandreou, Z.;Pate, S.F.;Patel, M.;Paus, C.;Penman, G.;Perdekamp, M.G.;Perepelitsa, D.V.;Periera, da Costa H.;Peters, K.;Phelps, W.;Piasetzky, E.;Pinkenburg, C.;Prochazka, I.;Protzman, T.;Purschke, M.L.;Putschke, J.;Pybus, J.R.;Rajput-Ghoshal, Rajput-Ghoshal R.;Rasson, J.;Raue, B.;Read, K.F.;Røed, K.;Reed, Reed R.;Reinhold, J.;Renner, E.L.;Richards, J.;Riedl, C.;Rinn, T.;Roche, J.;Roland, G.M.;Ron, G.;Rosati, M.;Royon, C.;Ryu, J.;Salur, Salur S.;Santos, R.;Sarsour, M.;Schambach, J.;Schmidt, A.;Schwarz, C.;Schwiening, J.;Seidl, R.;Sickles, A.;Simmerling, P.;Sirca, Sirca S.;Sharma, D.;Shi, Z.;Shibata, T.-A.;Shih, C.-W.;Shimizu, Shimizu S.;Shrestha, U.;Slifer, K.;Smith, K.;Sokhan, D.;Soltz, R.;Sondheim, W.;Song, J.;Strakovsky, I.I.;Steinberg, P.;Stepanov, P.;Stevens, J.;Strube, J.;Sun, P.;Sun, X.;Suresh, K.;Tadevosyan, V.;Tang, W.-C.;Tapia, Araya S.;Tarafdar, S.;Teodorescu, L.;Thomas, D.;Timmins, A.;Tomasek, L.;Trotta, N.;Trotta, R.;Tveter, Tveter T.S.;Umaka, E.;Usman, A.;van, Hecke H.W.;Van, Hulse C.;Velkovska, J.;Voutier, E.;Wang, Q.;Wang, Y.;Watts, D.P.;Wickramaarachchi, N.;Weinstein, L.;Williams, M.;Wong, C.-P.;Wood, L.;Wood, M.H.;Woody, C.;Wyslouch, B.;Xiao, Z.;Yamazaki, Yamazaki Y.;Yang, Yang Y.;Ye, Z.;Yoo, H.D.;Yurov, M.;Zachariou, N.;Zajc, W.A.;Zha, W.;Zhang, J.-L.;Zhang, J.-X.;Zhang, Y.;Zhao, Y.-X.;Zheng, X.;Zhuang, P. |
| 國立成功大學 |
2023 |
ECCE unpolarized TMD measurements
|
Seidl, R.;Vladimirov, A.;Adkins, J.K.;Akiba, Y.;Albataineh, Albataineh A.;Amaryan, M.;Arsene, I.C.;Gayoso, C.A.;Bae, J.;Bai, X.;Baker, M.D.;Bashkanov, M.;Bellwied, R.;Benmokhtar, F.;Berdnikov, V.;Bernauer, J.C.;Bock, F.;Boeglin, W.;Borysova, M.;Brash, E.;Brindza, P.;Briscoe, W.J.;Brooks, M.;Bueltmann, S.;Bukhari, M.H.S.;Bylinkin, A.;Capobianco, R.;Chang, W.-C.;Cheon, Y.;Chen, K.;Chen, K.-F.;Cheng, K.-Y.;Chiu, M.;Chujo, T.;Citron, Z.;Cline, E.;Cohen, E.;Cormier, T.;Morales, Y.C.;Cotton, Cotton C.;Crafts, J.;Crawford, Crawford C.;Creekmore, S.;Cuevas, Cuevas C.;Cunningham, J.;David, G.;Dean, C.T.;Demarteau, M.;Diehl, S.;Doshita, N.;Dupré, R.;Durham, J.M.;Dzhygadlo, R.;Ehlers, R.;Fassi, L.E.;Emmert, A.;Ent, R.;Fanelli, C.;Fatemi, R.;Fegan, S.;Finger, M.;Frantz, J.;Friedman, M.;Friscic, I.;Gangadharan, D.;Gardner, S.;Gates, K.;Geurts, F.;Gilman, R.;Glazier, D.;Glimos, E.;Goto, Y.;Grau, N.;Greene, S.V.;Guo, A.Q.;Guo, L.;Ha, S.K.;Haggerty, J.;Hayward, T.;He, X.;Hen, O.;Higinbotham, D.W.;Hoballah, M.;Horn, T.;Hoghmrtsyan, A.;Hsu, P.-H.J.;Huang, J.;Huber, G.;Hutson, A.;Hwang, K.Y.;Hyde, C.E.;Inaba, M.;Iwata, T.;Jo, H.S.;Joo, K.;Kalantarians, N.;Kalicy, G.;Kawade, Kawade K.;Kay, S.J.D.;Kim, A.;Kim, B.;Kim, C.;Kim, M.;Kim, Y.;Kistenev, E.;Klimenko, V.;Ko, S.H.;Korover, I.;Korsch, W.;Krintiras, G.;Kuhn, S.;Kuo, C.-M.;Kutz, T.;Lajoie, J.;Lawrence, D.;Lebedev, S.;Lee, H.;Lee, J.S.H.;Lee, S.W.;Lee, Y.-J.;Li, W.;Li, W.B.;Li, X.;Liang, Y.T.;Lim, S.;Lin, C.-H.;Lin, D.X.;Liu, K.;Liu, M.X.;Livingston, K.;Liyanage, N.;Llope, W.J.;Loizides, C.;Long, E.;Lu, R.-S.;Lu, Z.;Lynch, W.;Mantry, S.;Marchand, D.;Marcisovsky, Marcisovsky M.;Markert, C.;Markowitz, P.;Marukyan, H.;McGaughey, P.;Mihovilovic, Mihovilovic M.;Milner, R.G.;Milov, A.;Miyachi, Y.;Mkrtchyan, A.;Monaghan, P.;Montgomery, R.;Morrison, D.;Movsisyan, A.;Mkrtchyan, H.;Camacho, Camacho C.M.;Murray, Murray M.;Nagai, K.;Nagle, J.;Nakagawa, I.;Nattrass, C.;Nguyen, D.;Niccolai, S.;Nouicer, R.;Nukazuka, G.;Nycz, M.;Okorokov, V.A.;Orešić, S.;Osborn, J.D.;O'Shaughnessy, C.;Paganis, S.;Papandreou, Z.;Pate, S.F.;Patel, M.;Paus, C.;Penman, G.;Perdekamp, M.G.;Perepelitsa, D.V.;da, Costa H.P.;Peters, K.;Phelps, W.;Piasetzky, E.;Pinkenburg, C.;Prochazka, I.;Protzman, T.;Purschke, M.L.;Putschke, J.;Pybus, J.R.;Rajput-Ghoshal, Rajput-Ghoshal R.;Rasson, J.;Raue, B.;Read, K.F.;Røed, K.;Reed, Reed R.;Reinhold, J.;Renner, E.L.;Richards, J.;Riedl, C.;Rinn, T.;Roche, J.;Roland, G.M.;Ron, G.;Rosati, M.;Royon, C.;Ryu, J.;Salur, Salur S.;Santiesteban, N.;Santos, R.;Sarsour, M.;Schambach, J.;Schmidt, A.;Schmidt, N.;Schwarz, C.;Schwiening, J.;Sickles, A.;Simmerling, P.;Sirca, Sirca S.;Sharma, D.;Shi, Z.;Shibata, T.-A.;Shih, C.-W.;Shimizu, Shimizu S.;Shrestha, U.;Slifer, K.;Smith, K.;Sokhan, D.;Soltz, R.;Sondheim, W.;Song, J.;Strakovsky, I.I.;Steinberg, P.;Stepanov, P.;Stevens, J.;Strube, J.;Sun, P.;Sun, X.;Suresh, K.;Tadevosyan, V.;Tang, W.-C.;Araya, S.T.;Tarafdar, S.;Teodorescu, L.;Thomas, D.;Timmins, A.;Tomasek, L.;Trotta, N.;Trotta, R.;Tveter, Tveter T.S.;Umaka, E.;Usman, A.;van, Hecke H.W.;Hulse, C.V.;Velkovska, J.;Voutier, E.;Wang, P.K.;Wang, Q.;Wang, Y.;Watts, D.P.;Wickramaarachchi, N.;Weinstein, L.;Williams, M.;Wong, C.-P.;Wood, L.;Wood, M.H.;Woody, C.;Wyslouch, B.;Xiao, Z.;Yamazaki, Yamazaki Y.;Yang, Yang Y.;Ye, Z.;Yoo, H.D.;Yurov, M.;Zachariou, N.;Zajc, W.A.;Zha, W.;Zhang, J.-L.;Zhang, J.-X.;Zhang, Y.;Zhao, Y.-X.;Zheng, X.;Zhuang, P. |
| 國立成功大學 |
2023 |
AI-assisted optimization of the ECCE tracking system at the Electron Ion Collider
|
Fanelli, C.;Papandreou, Z.;Suresh, K.;Adkins, J.K.;Akiba, Y.;Albataineh, Albataineh A.;Amaryan, M.;Arsene, I.C.;Gayoso, C.A.;Bae, J.;Bai, X.;Baker, M.D.;Bashkanov, M.;Bellwied, R.;Benmokhtar, F.;Berdnikov, V.;Bernauer, J.C.;Bock, F.;Boeglin, W.;Borysova, M.;Brash, E.;Brindza, P.;Briscoe, W.J.;Brooks, M.;Bueltmann, S.;Bukhari, M.H.S.;Bylinkin, A.;Capobianco, R.;Chang, W.-C.;Cheon, Y.;Chen, K.;Chen, K.-F.;Cheng, K.-Y.;Chiu, M.;Chujo, T.;Citron, Z.;Cline, E.;Cohen, E.;Cormier, T.;Morales, Y.C.;Cotton, Cotton C.;Crafts, J.;Crawford, Crawford C.;Creekmore, S.;Cuevas, Cuevas C.;Cunningham, J.;David, G.;Dean, C.T.;Demarteau, M.;Diehl, S.;Doshita, N.;Dupré, R.;Durham, J.M.;Dzhygadlo, R.;Ehlers, R.;El, Fassi L.;Emmert, A.;Ent, R.;Fatemi, R.;Fegan, S.;Finger, M.;Frantz, J.;Friedman, M.;Friscic, I.;Gangadharan, D.;Gardner, S.;Gates, K.;Geurts, F.;Gilman, R.;Glazier, D.;Glimos, E.;Goto, Y.;Grau, N.;Greene, S.V.;Guo, A.Q.;Guo, L.;Ha, S.K.;Haggerty, J.;Hayward, T.;He, X.;Hen, O.;Higinbotham, D.W.;Hoballah, M.;Horn, T.;Hoghmrtsyan, A.;Hsu, P.-H.J.;Huang, J.;Huber, G.;Hutson, A.;Hwang, K.Y.;Hyde, C.E.;Inaba, M.;Iwata, T.;Jo, H.S.;Joo, K.;Kalantarians, N.;Kalicy, G.;Kawade, Kawade K.;Kay, S.J.D.;Kim, A.;Kim, B.;Kim, C.;Kim, M.;Kim, Y.;Kistenev, E.;Klimenko, V.;Ko, S.H.;Korover, I.;Korsch, W.;Krintiras, G.;Kuhn, S.;Kuo, C.-M.;Kutz, T.;Lajoie, J.;Lawrence, D.;Lebedev, S.;Lee, H.;Lee, J.S.H.;Lee, S.W.;Lee, Y.-J.;Li, W.;Li, W.B.;Li, X.;Liang, Y.T.;Lim, S.;Lin, C.-H.;Lin, D.X.;Liu, K.;Liu, M.X.;Livingston, K.;Liyanage, N.;Llope, W.J.;Loizides, C.;Long, E.;Lu, R.-S.;Lu, Z.;Lynch, W.;Mantry, S.;Marchand, D.;Marcisovsky, Marcisovsky M.;Markert, C.;Markowitz, P.;Marukyan, H.;McGaughey, P.;Mihovilovic, Mihovilovic M.;Milner, R.G.;Milov, A.;Miyachi, Y.;Mkrtchyan, A.;Monaghan, P.;Montgomery, R.;Morrison, D.;Movsisyan, A.;Mkrtchyan, H.;Camacho, Camacho C.M.;Murray, Murray M.;Nagai, K.;Nagle, J.;Nakagawa, I.;Nattrass, C.;Nguyen, D.;Niccolai, S.;Nouicer, R.;Nukazuka, G.;Nycz, M.;Okorokov, V.A.;Orešić, S.;Osborn, J.D.;O'Shaughnessy, C.;Paganis, S.;Pate, S.F.;Patel, M.;Paus, C.;Penman, G.;Perdekamp, M.G.;Perepelitsa, D.V.;da, Costa H.P.;Peters, K.;Phelps, W.;Piasetzky, E.;Pinkenburg, C.;Prochazka, I.;Protzman, T.;Purschke, M.L.;Putschke, J.;Pybus, J.R.;Rajput-Ghoshal, Rajput-Ghoshal R.;Rasson, J.;Raue, B.;Read, K.F.;Røed, K.;Reed, Reed R.;Reinhold, J.;Renner, E.L.;Richards, J.;Riedl, C.;Rinn, T.;Roche, J.;Roland, G.M.;Ron, G.;Rosati, M.;Royon, C.;Ryu, J.;Salur, Salur S.;Santiesteban, N.;Santos, R.;Sarsour, M.;Schambach, J.;Schmidt, A.;Schmidt, N.;Schwarz, C.;Schwiening, J.;Seidl, R.;Sickles, A.;Simmerling, P.;Sirca, Sirca S.;Sharma, D.;Shi, Z.;Shibata, T.-A.;Shih, C.-W.;Shimizu, Shimizu S.;Shrestha, U.;Slifer, K.;Smith, K.;Sokhan, D.;Soltz, R.;Sondheim, W.;Song, J.;Strakovsky, I.I.;Steinberg, P.;Stepanov, P.;Stevens, J.;Strube, J.;Sun, P.;Sun, X.;Tadevosyan, V.;Tang, W.-C.;Araya, S.T.;Tarafdar, S.;Teodorescu, L.;Thomas, D.;Timmins, A.;Tomasek, L.;Trotta, N.;Trotta, R.;Tveter, Tveter T.S.;Umaka, E.;Usman, A.;van, Hecke H.W.;Van, Hulse C.;Velkovska, J.;Voutier, E.;Wang, P.K.;Wang, Q.;Wang, Y.;Watts, D.P.;Wickramaarachchi, N.;Weinstein, L.;Williams, M.;Wong, C.-P.;Wood, L.;Wood, M.H.;Woody, C.;Wyslouch, B.;Xiao, Z.;Yamazaki, Yamazaki Y.;Yang, Yang Y.;Ye, Z.;Yoo, H.D.;Yurov, M.;Zachariou, N.;Zajc, W.A.;Zha, W.;Zhang, J.-L.;Zhang, J.-X.;Zhang, Y.;Zhao, Y.-X.;Zheng, X.;Zhuang, P. |
| 國立成功大學 |
2023 |
Exclusive J/ψ detection and physics with ECCE
|
Li, X.;Adkins, J.K.;Akiba, Y.;Albataineh, Albataineh A.;Amaryan, M.;Arsene, I.C.;Ayerbe, Gayoso C.;Bae, J.;Bai, X.;Baker, M.D.;Bashkanov, M.;Bellwied, R.;Benmokhtar, F.;Berdnikov, V.;Bernauer, J.C.;Bock, F.;Boeglin, W.;Borysova, M.;Brash, E.;Brindza, P.;Briscoe, W.J.;Brooks, M.;Bueltmann, S.;Bukhari, M.H.S.;Bylinkin, A.;Capobianco, R.;Chang, W.-C.;Cheon, Y.;Chen, K.;Chen, K.-F.;Cheng, K.-Y.;Chiu, M.;Chujo, T.;Citron, Z.;Cline, E.;Cohen, E.;Cormier, T.;Corrales, Morales Y.;Cotton, Cotton C.;Crafts, J.;Crawford, Crawford C.;Creekmore, S.;Cuevas, Cuevas C.;Cunningham, J.;David, G.;Dean, C.T.;Demarteau, M.;Diehl, S.;Doshita, N.;Dupré, R.;Durham, J.M.;Dzhygadlo, R.;Ehlers, R.;El, Fassi L.;Emmert, A.;Ent, R.;Fanelli, C.;Fatemi, R.;Fegan, S.;Finger, M.;Frantz, J.;Friedman, M.;Friscic, I.;Gangadharan, D.;Gardner, S.;Gates, K.;Geurts, F.;Gilman, R.;Glazier, D.;Glimos, E.;Goto, Y.;Grau, N.;Greene, S.V.;Guo, A.Q.;Guo, L.;Ha, S.K.;Haggerty, J.;Hayward, T.;He, X.;Hen, O.;Higinbotham, D.W.;Hoballah, M.;Horn, T.;Hoghmrtsyan, A.;Hsu, P.-H.J.;Huang, J.;Huber, G.;Hutson, A.;Hwang, K.Y.;Hyde, C.E.;Inaba, M.;Iwata, T.;Jo, H.S.;Joo, K.;Kalantarians, N.;Kalicy, G.;Kawade, Kawade K.;Kay, S.J.D.;Kim, A.;Kim, B.;Kim, C.;Kim, M.;Kim, Y.;Kistenev, E.;Klimenko, V.;Ko, S.H.;Korover, I.;Korsch, W.;Krintiras, G.;Kuhn, S.;Kuo, C.-M.;Kutz, T.;Lajoie, J.;Lawrence, D.;Lebedev, S.;Lee, H.;Lee, J.S.H.;Lee, S.W.;Lee, Y.-J.;Li, W.;Li, W.B.;Liang, Y.T.;Lim, S.;Lin, C.-H.;Lin, D.X.;Liu, K.;Liu, M.X.;Livingston, K.;Liyanage, N.;Llope, W.J.;Loizides, C.;Long, E.;Lu, R.-S.;Lu, Z.;Lynch, W.;Mantry, S.;Marchand, D.;Marcisovsky, Marcisovsky M.;Markert, C.;Markowitz, P.;Marukyan, H.;McGaughey, P.;Mihovilovic, Mihovilovic M.;Milner, R.G.;Milov, A.;Miyachi, Y.;Mkrtchyan, A.;Monaghan, P.;Montgomery, R.;Morrison, D.;Movsisyan, A.;Mkrtchyan, H.;Munoz, Camacho C.;Murray, Murray M.;Nagai, K.;Nagle, J.;Nakagawa, I.;Nattrass, C.;Nguyen, D.;Niccolai, S.;Nouicer, R.;Nukazuka, G.;Nycz, M.;Okorokov, V.A.;Orešić, S.;Osborn, J.D.;O'Shaughnessy, C.;Paganis, S.;Papandreou, Z.;Pate, S.F.;Patel, M.;Paus, C.;Penman, G.;Perdekamp, M.G.;Perepelitsa, D.V.;Periera, da Costa H.;Peters, K.;Phelps, W.;Piasetzky, E.;Pinkenburg, C.;Prochazka, I.;Protzman, T.;Purschke, M.L.;Putschke, J.;Pybus, J.R.;Rajput-Ghoshal, Rajput-Ghoshal R.;Rasson, J.;Raue, B.;Read, K.F.;Røed, K.;Reed, Reed R.;Reinhold, J.;Renner, E.L.;Richards, J.;Riedl, C.;Rinn, T.;Roche, J.;Roland, G.M.;Ron, G.;Rosati, M.;Royon, C.;Ryu, J.;Salur, Salur S.;Santiesteban, N.;Santos, R.;Sarsour, M.;Schambach, J.;Schmidt, A.;Schmidt, N.;Schwarz, C.;Schwiening, J.;Seidl, R.;Sickles, A.;Simmerling, P.;Sirca, Sirca S.;Sharma, D.;Shi, Z.;Shibata, T.-A.;Shih, C.-W.;Shimizu, Shimizu S.;Shrestha, U.;Slifer, K.;Smith, K.;Sokhan, D.;Soltz, R.;Sondheim, W.;Song, J.;Strakovsky, I.I.;Steinberg, P.;Stepanov, P.;Stevens, J.;Strube, J.;Sun, P.;Sun, X.;Suresh, K.;Tadevosyan, V.;Tang, W.-C.;Tapia, Araya S.;Tarafdar, S.;Teodorescu, L.;Thomas, D.;Timmins, A.;Tomasek, L.;Trotta, N.;Trotta, R.;Tveter, Tveter T.S.;Umaka, E.;Usman, A.;van, Hecke H.W.;Van, Hulse C.;Velkovska, J.;Voutier, E.;Wang, P.K.;Wang, Q.;Wang, Y.;Watts, D.P.;Wickramaarachchi, N.;Weinstein, L.;Williams, M.;Wong, C.-P.;Wood, L.;Wood, M.H.;Woody, C.;Wyslouch, B.;Xiao, Z.;Yamazaki, Yamazaki Y.;Yang, Yang Y.;Ye, Z.;Yoo, H.D.;Yurov, M.;Zachariou, N.;Zajc, W.A.;Zha, W.;Zhang, J.-L.;Zhang, J.-X.;Zhang, Y.;Zhao, Y.-X.;Zheng, X.;Zhuang, P. |
| 國立成功大學 |
2023 |
Scientific computing plan for the ECCE detector at the Electron Ion Collider
|
Bernauer, J.C.;Dean, C.T.;Fanelli, C.;Huang, J.;Kauder, Kauder K.;Lawrence, D.;Osborn, J.D.;Paus, C.;Adkins, J.K.;Akiba, Y.;Albataineh, Albataineh A.;Amaryan, M.;Arsene, I.C.;Ayerbe, Gayoso C.;Bae, J.;Bai, X.;Baker, M.D.;Bashkanov, M.;Bellwied, R.;Benmokhtar, F.;Berdnikov, V.;Bock, F.;Boeglin, W.;Borysova, M.;Brash, E.;Brindza, P.;Briscoe, W.J.;Brooks, M.;Bueltmann, S.;Bukhari, M.H.S.;Bylinkin, A.;Capobianco, R.;Chang, W.-C.;Cheon, Y.;Chen, K.;Chen, K.-F.;Cheng, K.-Y.;Chiu, M.;Chujo, T.;Citron, Z.;Cline, E.;Cohen, E.;Cormier, T.;Corrales, Morales Y.;Cotton, Cotton C.;Crafts, J.;Crawford, Crawford C.;Creekmore, S.;Cuevas, Cuevas C.;Cunningham, J.;David, G.;Demarteau, M.;Diehl, S.;Doshita, N.;Dupré, R.;Durham, J.M.;Dzhygadlo, R.;Ehlers, R.;El, Fassi L.;Emmert, A.;Ent, R.;Fatemi, R.;Fegan, S.;Finger, M.;Frantz, J.;Friedman, M.;Friscic, I.;Gangadharan, D.;Gardner, S.;Gates, K.;Geurts, F.;Gilman, R.;Glazier, D.;Glimos, E.;Goto, Y.;Grau, N.;Greene, S.V.;Guo, A.Q.;Guo, L.;Ha, S.K.;Haggerty, J.;Hayward, T.;He, X.;Hen, O.;Higinbotham, D.W.;Hoballah, M.;Horn, T.;Hoghmrtsyan, A.;Hsu, P.-H.J.;Huber, G.;Hutson, A.;Hwang, K.Y.;Hyde, C.;Inaba, M.;Iwata, T.;Jo, H.S.;Joo, K.;Kalantarians, N.;Kalicy, G.;Kawade, Kawade K.;Kay, S.J.D.;Kim, A.;Kim, B.;Kim, C.;Kim, M.;Kim, Y.;Kistenev, E.;Klimenko, V.;Ko, S.H.;Korover, I.;Korsch, W.;Krintiras, G.;Kuhn, S.;Kuo, C.-M.;Kutz, T.;Lajoie, J.;Lebedev, S.;Lee, H.;Lee, J.S.H.;Lee, S.W.;Lee, Y.-J.;Li, W.;Li, X.;Liang, Y.T.;Lim, S.;Lin, C.-H.;Lin, D.X.;Liu, K.;Liu, M.X.;Livingston, K.;Liyanage, N.;Llope, W.J.;Loizides, C.;Long, E.;Lu, R.-S.;Lu, Z.;Lynch, W.;Marchand, D.;Marcisovsky, Marcisovsky M.;Markowitz, P.;Marukyan, H.;McGaughey, P.;Mihovilovic, Mihovilovic M.;Milner, R.G.;Milov, A.;Miyachi, Y.;Mkrtchyan, A.;Monaghan, P.;Montgomery, R.;Morrison, D.;Movsisyan, A.;Mkrtchyan, H.;Munoz, Camacho C.;Murray, Murray M.;Nagai, K.;Nagle, J.;Nakagawa, I.;Nattrass, C.;Nguyen, D.;Niccolai, S.;Nouicer, R.;Nukazuka, G.;Nycz, M.;Okorokov, V.A.;Orešić, S.;O'Shaughnessy, C.;Paganis, S.;Papandreou, Z.;Pate, S.F.;Patel, M.;Penman, G.;Perdekamp, M.G.;Perepelitsa, D.V.;Periera, da Costa H.;Peters, K.;Phelps, W.;Piasetzky, E.;Pinkenburg, C.;Prochazka, I.;Protzman, T.;Purschke, M.L.;Putschke, J.;Pybus, J.R.;Rajput-Ghoshal, Rajput-Ghoshal R.;Rasson, J.;Raue, B.;Read, K.;Røed, K.;Reed, Reed R.;Reinhold, J.;Renner, E.L.;Richards, J.;Riedl, C.;Rinn, T.;Roche, J.;Roland, G.M.;Ron, G.;Rosati, M.;Royon, C.;Ryu, J.;Salur, Salur S.;Santiesteban, N.;Santos, R.;Sarsour, M.;Schambach, J.;Schmidt, A.;Schmidt, N.;Schwarz, C.;Schwiening, J.;Seidl, R.;Sickles, A.;Simmerling, P.;Sirca, Sirca S.;Sharma, D.;Shi, Z.;Shibata, T.-A.;Shih, C.-W.;Shimizu, Shimizu S.;Shrestha, U.;Slifer, K.;Smith, K.;Sokhan, D.;Soltz, R.;Sondheim, W.;Song, J.;Strakovsky, I.I.;Steinberg, P.;Stepanov, P.;Stevens, J.;Strube, J.;Sun, P.;Sun, X.;Suresh, K.;Tadevosyan, V.;Tang, W.-C.;Tapia, Araya S.;Tarafdar, S.;Teodorescu, L.;Timmins, A.;Tomasek, L.;Trotta, N.;Trotta, R.;Tveter, Tveter T.S.;Umaka, E.;Usman, A.;van, Hecke H.W.;Van, Hulse C.;Velkovska, J.;Voutier, E.;Wang, P.K.;Wang, Q.;Wang, Y.;Watts, D.P.;Wickramaarachchi, N.;Weinstein, L.;Williams, M.;Wong, C.-P.;Wood, L.;Wood, M.H.;Woody, C.;Wyslouch, B.;Xiao, Z.;Yamazaki, Yamazaki Y.;Yang, Yang Y.;Ye, Z.;Yoo, H.D.;Yurov, M.;Zachariou, N.;Zajc, W.A.;Zhang, J.;Zhang, Y.;Zhao, Y.X.;Zheng, X.;Zhuang, P. |
| 國立成功大學 |
2023 |
Detector requirements and simulation results for the EIC exclusive, diffractive and tagging physics program using the ECCE detector concept
|
Bylinkin, A.;Dean, C.T.;Fegan, S.;Gangadharan, D.;Gates, K.;Kay, S.J.D.;Korover, I.;Li, W.B.;Li, X.;Montgomery, R.;Nguyen, D.;Penman, G.;Pybus, J.R.;Santiesteban, N.;Shimizu, Shimizu S.;Trotta, R.;Usman, A.;Baker, M.D.;Frantz, J.;Glazier, D.I.;Higinbotham, D.W.;Horn, T.;Huang, J.;Huber, G.M.;Reed, Reed R.;Roche, J.;Schmidt, A.;Steinberg, P.;Stevens, J.;Goto, Y.;Munoz, Camacho C.;Murray, Murray M.;Papandreou, Z.;Zha, W.;Adkins, J.K.;Akiba, Y.;Albataineh, Albataineh A.;Amaryan, M.;Arsene, I.C.;Ayerbe, Gayoso C.;Bae, J.;Bai, X.;Bashkanov, M.;Bellwied, R.;Benmokhtar, F.;Berdnikov, V.;Bernauer, J.C.;Bock, F.;Boeglin, W.;Borysova, M.;Brash, E.;Brindza, P.;Briscoe, W.J.;Brooks, M.;Bueltmann, S.;Bukhari, M.H.S.;Capobianco, R.;Chang, W.-C.;Cheon, Y.;Chen, K.;Chen, K.-F.;Cheng, K.-Y.;Chiu, M.;Chujo, T.;Citron, Z.;Cline, E.;Cohen, E.;Cormier, T.;Corrales, Morales Y.;Cotton, Cotton C.;Crafts, J.;Crawford, Crawford C.;Creekmore, S.;Cuevas, Cuevas C.;Cunningham, J.;David, G.;Demarteau, M.;Diehl, S.;Doshita, N.;Dupré, R.;Durham, J.M.;Dzhygadlo, R.;Ehlers, R.;El, Fassi L.;Emmert, A.;Ent, R.;Fanelli, C.;Fatemi, R.;Finger, M.;Friedman, M.;Friscic, I.;Gardner, S.;Geurts, F.;Gilman, R.;Glimos, E.;Grau, N.;Greene, S.V.;Guo, A.Q.;Guo, L.;Ha, S.K.;Haggerty, J.;Hayward, T.;He, X.;Hen, O.;Hoballah, M.;Hoghmrtsyan, A.;Hsu, P.-H.J.;Hutson, A.;Hwang, K.Y.;Hyde, C.E.;Inaba, M.;Iwata, T.;Jo, H.S.;Joo, K.;Kalantarians, N.;Kalicy, G.;Kawade, Kawade K.;Kim, A.;Kim, B.;Kim, C.;Kim, M.;Kim, Y.;Kistenev, E.;Klimenko, V.;Ko, S.H.;Korsch, W.;Krintiras, G.;Kuhn, S.;Kuo, C.-M.;Kutz, T.;Lajoie, J.;Lawrence, D.;Lebedev, S.;Lee, H.;Lee, J.S.H.;Lee, S.W.;Lee, Y.-J.;Li, W.;Liang, Y.T.;Lim, S.;Lin, C.-H.;Lin, D.X.;Liu, K.;Liu, M.X.;Livingston, K.;Liyanage, N.;Llope, W.J.;Loizides, C.;Long, E.;Lu, R.-S.;Lu, Z.;Lynch, W.;Mantry, S.;Marchand, D.;Marcisovsky, Marcisovsky M.;Markert, C.;Markowitz, P.;Marukyan, H.;McGaughey, P.;Mihovilovic, Mihovilovic M.;Milner, R.G.;Milov, A.;Miyachi, Y.;Mkrtchyan, A.;Monaghan, P.;Morrison, D.;Movsisyan, A.;Mkrtchyan, H.;Nagai, K.;Nagle, J.;Nakagawa, I.;Nattrass, C.;Niccolai, S.;Nouicer, R.;Nukazuka, G.;Nycz, M.;Okorokov, V.A.;Orešić, S.;Osborn, J.D.;O'Shaughnessy, C.;Paganis, S.;Pate, S.F.;Patel, M.;Paus, C.;Perdekamp, M.G.;Perepelitsa, D.V.;Periera, da Costa H.;Peters, K.;Phelps, W.;Piasetzky, E.;Pinkenburg, C.;Prochazka, I.;Protzman, T.;Purschke, M.L.;Putschke, J.;Rajput-Ghoshal, Rajput-Ghoshal R.;Rasson, J.;Raue, B.;Read, K.F.;Røed, K.;Reinhold, J.;Renner, E.L.;Richards, J.;Riedl, C.;Rinn, T.;Roland, G.M.;Ron, G.;Rosati, M.;Royon, C.;Ryu, J.;Salur, Salur S.;Santos, R.;Sarsour, M.;Schambach, J.;Schmidt, N.;Schwarz, C.;Schwiening, J.;Seidl, R.;Sickles, A.;Simmerling, P.;Sirca, Sirca S.;Sharma, D.;Shi, Z.;Shibata, T.-A.;Shih, C.-W.;Shrestha, U.;Slifer, K.;Smith, K.;Sokhan, D.;Soltz, R.;Sondheim, W.;Song, J.;Strakovsky, I.I.;Stepanov, P.;Strube, J.;Sun, P.;Sun, X.;Suresh, K.;Tadevosyan, V.;Tang, W.-C.;Tapia, Araya S.;Tarafdar, S.;Teodorescu, L.;Thomas, D.;Timmins, A.;Tomasek, L.;Trotta, N.;Tveter, Tveter T.S.;Umaka, E.;van, Hecke H.W.;Van, Hulse C.;Velkovska, J.;Voutier, E.;Wang, P.K.;Wang, Q.;Wang, Y.;Watts, D.P.;Wickramaarachchi, N.;Weinstein, L.;Williams, M.;Wong, C.-P.;Wood, L.;Wood, M.H.;Woody, C.;Wyslouch, B.;Xiao, Z.;Yamazaki, Yamazaki Y.;Yang, Yang Y.;Ye, Z.;Yoo, H.D.;Yurov, M.;Zachariou, N.;Zajc, W.A.;Zhang, J.-L.;Zhang, J.-X.;Zhang, Y.;Zhao, Y.-X.;Zheng, X.;Zhuang, P. |
| 國立成功大學 |
2023 |
Evaluation of longitudinal double-spin asymmetry measurements in semi-inclusive deep-inelastic scattering from the proton for the ECCE detector design
|
Van, Hulse C.;Adkins, J.K.;Akiba, Y.;Albataineh, Albataineh A.;Amaryan, M.;Arsene, I.C.;Gayoso, C.A.;Bae, J.;Bai, X.;Baker, M.D.;Bashkanov, M.;Bellwied, R.;Benmokhtar, F.;Berdnikov, V.;Bernauer, J.C.;Bock, F.;Boeglin, W.;Borysova, M.;Brash, E.;Brindza, P.;Briscoe, W.J.;Brooks, M.;Bueltmann, S.;Bukhari, M.H.S.;Bylinkin, A.;Capobianco, R.;Chang, W.-C.;Cheon, Y.;Chen, K.;Chen, K.-F.;Cheng, K.-Y.;Chiu, M.;Chujo, T.;Citron, Z.;Cline, E.;Cohen, E.;Cormier, T.;Morales, Y.C.;Cotton, Cotton C.;Crafts, J.;Crawford, Crawford C.;Creekmore, S.;Cuevas, C.;Cunningham, J.;David, G.;Dean, C.T.;Demarteau, M.;Diehl, S.;Doshita, N.;Dupré, R.;Durham, J.M.;Dzhygadlo, R.;Ehlers, R.;Fassi, L.E.;Emmert, A.;Ent, R.;Fanelli, C.;Fatemi, R.;Fegan, S.;Finger, M.;Jr;Frantz, J.;Friedman, M.;Friscic, I.;Gangadharan, D.;Gardner, S.;Gates, K.;Geurts, F.;Gilman, R.;Glazier, D.;Glimos, E.;Goto, Y.;Grau, N.;Greene, S.V.;Guo, A.Q.;Guo, L.;Ha, S.K.;Haggerty, J.;Hayward, T.;He, X.;Hen, O.;Higinbotham, D.W.;Hoballah, M.;Horn, T.;Hoghmrtsyan, A.;Hsu, P.-H.J.;Huang, J.;Huber, G.;Hutson, A.;Hwang, K.Y.;Hyde, C.E.;Inaba, M.;Iwata, T.;Jo, H.S.;Joo, K.;Kalantarians, N.;Kalicy, G.;Kawade, Kawade K.;Kay, S.J.D.;Kim, A.;Kim, B.;Kim, C.;Kim, M.;Kim, Y.;Kistenev, E.;Klimenko, V.;Ko, S.H.;Korover, I.;Korsch, W.;Krintiras, G.;Kuhn, S.;Kuo, C.-M.;Kutz, T.;Lajoie, J.;Lawrence, D.;Lebedev, S.;Lee, H.;Lee, J.S.H.;Lee, S.W.;Lee, Y.-J.;Li, W.;Li, W.B.;Li, X.;Liang, Y.T.;Lim, S.;Lin, C.-H.;Lin, D.X.;Liu, K.;Liu, M.X.;Livingston, K.;Liyanage, N.;Llope, W.J.;Loizides, C.;Long, E.;Lu, R.-S.;Lu, Z.;Lynch, W.;Mantry, S.;Marchand, D.;Marcisovsky, Marcisovsky M.;Markert, C.;Markowitz, P.;Marukyan, H.;McGaughey, P.;Mihovilovic, Mihovilovic M.;Milner, R.G.;Milov, A.;Miyachi, Y.;Mkrtchyan, A.;Mkrtchyan, H.;Monaghan, P.;Montgomery, R.;Morrison, D.;Movsisyan, A.;Camacho, Camacho C.M.;Murray, Murray M.;Nagai, K.;Nagle, J.;Nakagawa, I.;Nattrass, C.;Nguyen, D.;Niccolai, S.;Nouicer, R.;Nukazuka, G.;Nycz, M.;Okorokov, V.A.;Orešić, S.;Osborn, J.D.;O'Shaughnessy, C.;Paganis, S.;Papandreou, Z.;Pate, S.F.;Patel, M.;Paus, C.;Penman, G.;Perdekamp, M.G.;Perepelitsa, D.V.;Costa, H.P.D.;Peters, K.;Phelps, W.;Piasetzky, E.;Pinkenburg, C.;Prochazka, I.;Protzman, T.;Purschke, M.L.;Putschke, J.;Pybus, J.R.;Rajput-Ghoshal, Rajput-Ghoshal R.;Rasson, J.;Read, K.F.;Røed, K.;Reed, Reed R.;Reinhold, J.;Renner, E.L.;Richards, J.;Riedl, C.;Rinn, T.;Roche, J.;Roland, G.M.;Ron, G.;Rosati, M.;Royon, C.;Ryu, J.;Salur, Salur S.;Santiesteban, N.;Santos, R.;Sarsour, M.;Schambach, J.;Schmidt, A.;Schmidt, N.;Schwarz, C.;Schwiening, J.;Seidl, R.;Sickles, A.;Simmerling, P.;Sirca, Sirca S.;Sharma, D.;Shi, Z.;Shibata, T.-A.;Shih, C.-W.;Shimizu, Shimizu S.;Shrestha, U.;Slifer, K.;Smith, K.;Sokhan, D.;Soltz, R.;Sondheim, W.;Song, J.;Strakovsky, I.I.;Steinberg, P.;Stepanov, P.;Stevens, J.;Strube, J.;Sun, P.;Sun, X.;Suresh, K.;Tadevosyan, V.;Tang, W.-C.;Araya, S.T.;Tarafdar, S.;Teodorescu, L.;Thomas, D.;Timmins, A.;Tomasek, L.;Trotta, N.;Trotta, R.;Tveter, Tveter T.S.;Umaka, E.;Usman, A.;Hecke, Hecke H.W.V.;Velkovska, J.;Voutier, E.;Wang, P.K.;Wang, Q.;Wang, Y.;Watts, D.P.;Wickramaarachchi, N.;Weinstein, L.;Williams, M.;Wong, C.-P.;Wood, L.;Wood, M.H.;Woody, C.;Wyslouch, B.;Xiao, Z.;Yamazaki, Yamazaki Y.;Yang, Yang Y.;Ye, Z.;Yoo, H.D.;Yurov, M.;Zachariou, N.;Zajc, W.A.;Zha, W.;Zhang, J.-L.;Zhang, J.-X.;Zhang, Y.;Zhao, Y.-X.;Zheng, X.;Zhuang, P. |
| 臺大學術典藏 |
2019-12-27T01:16:39Z |
Progress with the single-sided module prototypes for the ATLAS tracker upgrade stave
|
Parzefall, U.; Pernecker, S.; Phillips, P.; Poltorak, K.; Puldon, D.; Robinson, D.; Sadrozinski, H.F.-W.; Santoyo, D.; Sattari, S.; Schamberger, D.; Seiden, A.; Sutcliffe, P.; Swientek, K.; Tsionou, D.; Tyndel, M.; Unno, Y.; Viehhauser, G.; Villani, E.G.; Von Wilpert, J.; Wastie, R.; Weber, M.; Weidberg, A.; Wiik, L.; Wilmut, I.; Wormald, M.; Wright, J.; Xu, D.; Stathes Paganis; Fox, H.; French, R.; Gallop, B.; Garc?a, C.; Gerling, M.; Gibson, M.; Gilchriese, M.; Gonzalez Sevilla, S.; Goodrick, M.; Greenall, A.; Grillo, A.A.; Haber, C.H.; Hessey, N.P.; Holt, R.; Hommels, L.B.A.; Jakobs, K.; Jones, T.J.; Kaplon, J.; Kierstead, J.; Koffeman, E.; K?hler, M.; Lacasta, C.; La Marra, D.; Li, Z.; Lindgren, S.; Lynn, D.; Maddock, P.; Mahboubi, K.; Martinez-Mckinney, F.; Matheson, J.; Maunu, R.; McCarthy, R.; Newcomer, M.; Nickerson, R.; O'Shea, V.; Paganis, S.; Allport, P.P.; Affolder, A.A.; Anghinolfi, F.; Bates, R.; Betancourt, C.; Buttar, C.; Carter, J.R.; Casse, G.; Chen, H.; Chilingarov, A.; Civera, J.V.; Clark, A.; Colijn, A.P.; Dabrowski, W.; Dawson, N.; Dewilde, B.; Dhawan, S.; Dressnandt, N.; Dwu?nik, M.; Eklund, L.; Fadeyev, V.; Farthouat, P.; Ferr?re, D. |
| 臺大學術典藏 |
2019-12-27T01:16:39Z |
Erratum: Bottom photoproduction measured using decays into muons in dijet events in ep collisions at s=318GeV (Physical Review D - Particles, Fields, Gravitation and Cosmology (2004) 70, (012008))
|
Dannheim, D.; Drews, G.; Fourletova, J.; Fricke, U.; Geiser, A.; G?ttlicher, P.; Gutsche, O.; Haas, T.; Hain, W.; Hillert, S.; Kahle, B.; K?tz, U.; Kowalski, H.; Kramberger, G.; Labes, H.; Lelas, D.; Lim, H.; L?hr, B.; Mankel, R.; Melzer-Pellmann, I.-A.; Nguyen, C.N.; Notz, D.; Nucio-Quiroz, A.E.; Polini, A.; Raval, A.; Rurua, L.; Schneekloth, U.; St?sslein, U.; Wolf, G.; Youngman, C.; Zeuner, W.; Schlenstedt, S.; Barbagli, G.; Gallo, E.; Genta, C.; Pelfer, P.G.; Bamberger, A.; Benen, A.; Karstens, F.; Dobur, D.; Vlasov, N.N.; Bell, M.; Bussey, P.J.; Doyle, A.T.; Ferrando, J.; Hamilton, J.; Hanlon, S.; Saxon, D.H.; Skillicorn, I.O.; Gialas, I.; Carli, T.; Gosau, T.; Holm, U.; Krumnack, N.; Lohrmann, E.; Milite, M.; Salehi, H.; Schleper, P.; Stonjek, S.; Wichmann, K.; Wick, K.; Ziegler, A.; Ziegler, A.; Collins-Tooth, C.; Foudas, C.; Gon?alo, R.; Long, K.R.; Tapper, A.D.; Cloth, P.; Filges, D.; Kataoka, M.; Nagano, K.; Tokushuku, K.; Yamada, S.; Yamazaki, Y.; Barakbaev, A.N.; Boos, E.G.; Pokrovskiy, N.S.; Zhautykov, B.O.; Son, D.; Piotrzkowski, K.; Barreiro, F.; Glasman, C.; Gonz?lez, O.; Labarga, L.; Del Peso, J.; Tassi, E.; Terr?n, J.; V?zquez, M.; Zambrana, M.; Barbi, M.; Corriveau, F.; Gliga, S.; Lainesse, J.; Padhi, S.; Stairs, D.G.; Walsh, R.; Tsurugai, T.; Antonov, A.; Danilov, P.; Dolgoshein, B.A.; Gladkov, D.; Sosnovtsev, V.; Suchkov, S.; Dementiev, R.K.; Ermolov, P.F.; Golubkov, Yu.A.; Katkov, I.I.; Khein, L.A.; Korzhavina, I.A.; Kuzmin, V.A.; Levchenko, B.B.; Lukina, O.Y.; Proskuryakov, A.S.; Shcheglova, L.M.; Zotkin, S.A.; Coppola, N.; Grijpink, S.; Koffeman, E.; Kooijman, P.; Maddox, E.; Pellegrino, A.; Schagen, S.; Tiecke, H.; Velthuis, J.J.; Wiggers, L.; De Wolf, E.; Br?mmer, N.; Bylsma, B.; Durkin, L.S.; Ling, T.Y.; Cooper-Sarkar, A.M.; Cottrell, A.; Devenish, R.C.E.; Foster, B.; Grzelak, G.; Gwenlan, C.; Patel, S.; Straub, P.B.; Walczak, R.; Bertolin, A.; Brugnera, R.; Carlin, R.; Dal Corso, F.; Dusini, S.; Garfagnini, A.; Limentani, S.; Longhin, A.; Parenti, A.; Posocco, M.; Stanco, L.; Turcato, M.; Heaphy, E.A.; Metlica, F.; Oh, B.Y.; Whitmore, J.J.; Iga, Y.; D'Agostini, G.; Marini, G.; Nigro, A.; Cormack, C.; Hart, J.C.; McCubbin, N.A.; Heusch, C.; Park, I.H.; Pavel, N.; Abramowicz, H.; Gabareen, A.; Kananov, S.; Kreisel, A.; Levy, A.; Kuze, M.; Fusayasu, T.; Kagawa, S.; Kohno, T.; Tawara, T.; Yamashita, T.; Hamatsu, R.; Hirose, T.; Inuzuka, M.; Kaji, H.; Kitamura, S.; Matsuzawa, K.; Ferrero, M.I.; Monaco, V.; Sacchi, R.; Solano, A.; Arneodo, M.; Ruspa, M.; Koop, T.; Martin, J.F.; Mirea, A.; Butterworth, J.M.; Hall-Wilton, R.; Jones, T.W.; Lightwood, M.S.; Sutton, M.R.; Targett-Adams, C.; Ciborowski, J.; Ciesielski, R.; ?uzniak, P.; Nowak, R.J.; Pawlak, J.M.; Sztuk, J.; Tymieniecka, T.; Ukleja, A.; Ukleja, J.; Zarnecki, A.F.; Adamus, M.; Plucinski, P.; Eisenberg, Y.; Gladilin, L.K.; Hochman, D.; Karshon, U.; Riveline, M.; K?ira, D.; Lammers, S.; Li, L.; Reeder, D.D.; Rosin, M.; Savin, A.A.; Smith, W.H.; Deshpande, A.; Dhawan, S.; Bhadra, S.; Catterall, C.D.; Fourletov, S.; Hartner, G.; Menary, S.; Soares, M.; Standage, J.; Stathes Paganis; Stifutkin, A.; Tandler, J.; Voss, K.C.; Wang, M.; Weber, A.; Bailey, D.S.; Brook, N.H.; Cole, J.E.; Heath, G.P.; Namsoo, T.; Robins, S.; Wing, M.; Capua, M.; Mastroberardino, A.; Schioppa, M.; Susinno, G.; Kim, J.Y.; Kim, Y.K.; Lee, J.H.; Lim, I.T.; Pac, M.Y.; Caldwell, A.; Helbich, M.; Liu, X.; Mellado, B.; Ning, Y.; Paganis, S.; Ren, Z.; Schmidke, W.B.; Sciulli, F.; Chwastowski, J.; Eskreys, A.; Figiel, J.; Galas, A.; Olkiewicz, K.; Stopa, P.; Zawiejski, L.; Adamczyk, L.; Bo?d, T.; Grabowska-Bo?d, I.; Kisielewska, D.; Kowal, A.M.; Kowal, M.; Kowalski, T.; Przybycie?, M.; Suszycki, L.; Szuba, D.; Szuba, J.; Kota?ski, A.; S?omi?ski, W.; Adler, V.; Behrens, U.; Bloch, I.; Borras, K.; Chiochia, V.; Bruni, A.; Bruni, G.; Cara Romeo, G.; Cifarelli, L.; Cindolo, F.; Contin, A.; Corradi, M.; De Pasquale, S.; Giusti, P.; Iacobucci, G.; Margiotti, A.; Montanari, A.; Nania, R.; Palmonari, F.; Pesci, A.; Sartorelli, G.; Zichichi, A.; Aghuzumtsyan, G.; Bartsch, D.; Brock, I.; Goers, S.; Hartmann, H.; Hilger, E.; Irrgang, P.; Jakob, H.-P.; Kind, O.; Meyer, U.; Paul, E.; Rautenberg, J.; Renner, R.; Chekanov, S.;Derrick, M.;Krakauer, D.;Loizides, J.H.;Magill, S.;Miglioranzi, S.;Musgrave, B.;Repond, J.;Yoshida, R.;Mattingly, M.C.K.;Antonioli, P.;Bari, G.;Basile, M.;Bellagamba, L.;Boscherini, D.;Bruni, A.;Bruni, G.;Cara Romeo, G.;Cifarelli, L.;Cindolo, F.;Contin, A.;Corradi, M.;De Pasquale, S.;Giusti, P.;Iacobucci, G.;Margiotti, A.;Montanari, A.;Nania, R.;Palmonari, F.;Pesci, A.;Sartorelli, G.;Zichichi, A.;Aghuzumtsyan, G.;Bartsch, D.;Brock, I.;Goers, S.;Hartmann, H.;Hilger, E.;Irrgang, P.;Jakob, H.-P.;Kind, O.;Meyer, U.;Paul, E.;Rautenberg, J.;Renner, R.;Stifutkin, A.;Tandler, J.;Voss, K.C.;Wang, M.;Weber, A.;Bailey, D.S.;Brook, N.H.;Cole, J.E.;Heath, G.P.;Namsoo, T.;Robins, S.;Wing, M.;Capua, M.;Mastroberardino, A.;Schioppa, M.;Susinno, G.;Kim, J.Y.;Kim, Y.K.;Lee, J.H.;Lim, I.T.;Pac, M.Y.;Caldwell, A.;Helbich, M.;Liu, X.;Mellado, B.;Ning, Y.;Paganis, S.;Ren, Z.;Schmidke, W.B.;Sciulli, F.;Chwastowski, J.;Eskreys, A.;Figiel, J.;Galas, A.;Olkiewicz, K.;Stopa, P.;Zawiejski, L.;Adamczyk, L.;Bo?d, T.;Grabowska-Bo?d, I.;Kisielewska, D.;Kowal, A.M.;Kowal, M.;Kowalski, T.;Przybycie?, M.;Suszycki, L.;Szuba, D.;Szuba, J.;Kota?ski, A.;S?omi?ski, W.;Adler, V.;Behrens, U.;Bloch, I.;Borras, K.;Chiochia, V.;Dannheim, D.;Drews, G.;Fourletova, J.;Fricke, U.;Geiser, A.;G?ttlicher, P.;Gutsche, O.;Haas, T.;Hain, W.;Hillert, S.;Kahle, B.;K?tz, U.;Kowalski, H.;Kramberger, G.;Labes, H.;Lelas, D.;Lim, H.;L?hr, B.;Mankel, R.;Melzer-Pellmann, I.-A.;Nguyen, C.N.;Notz, D.;Nucio-Quiroz, A.E.;Polini, A.;Raval, A.;Rurua, L.;Schneekloth, U.;St?sslein, U.;Wolf, G.;Youngman, C.;Zeuner, W.;Schlenstedt, S.;Barbagli, G.;Gallo, E.;Genta, C.;Pelfer, P.G.;Bamberger, A.;Benen, A.;Karstens, F.;Dobur, D.;Vlasov, N.N.;Bell, M.;Bussey, P.J.;Doyle, A.T.;Ferrando, J.;Hamilton, J.;Hanlon, S.;Saxon, D.H.;Skillicorn, I.O.;Gialas, I.;Carli, T.;Gosau, T.;Holm, U.;Krumnack, N.;Lohrmann, E.;Milite, M.;Salehi, H.;Schleper, P.;Stonjek, S.;Wichmann, K.;Wick, K.;Ziegler, A.;Ziegler, A.;Collins-Tooth, C.;Foudas, C.;Gon?alo, R.;Long, K.R.;Tapper, A.D.;Cloth, P.;Filges, D.;Kataoka, M.;Nagano, K.;Tokushuku, K.;Yamada, S.;Yamazaki, Y.;Barakbaev, A.N.;Boos, E.G.;Pokrovskiy, N.S.;Zhautykov, B.O.;Son, D.;Piotrzkowski, K.;Barreiro, F.;Glasman, C.;Gonz?lez, O.;Labarga, L.;Del Peso, J.;Tassi, E.;Terr?n, J.;V?zquez, M.;Zambrana, M.;Barbi, M.;Corriveau, F.;Gliga, S.;Lainesse, J.;Padhi, S.;Stairs, D.G.;Walsh, R.;Tsurugai, T.;Antonov, A.;Danilov, P.;Dolgoshein, B.A.;Gladkov, D.;Sosnovtsev, V.;Suchkov, S.;Dementiev, R.K.;Ermolov, P.F.;Golubkov, Yu.A.;Katkov, I.I.;Khein, L.A.;Korzhavina, I.A.;Kuzmin, V.A.;Levchenko, B.B.;Lukina, O.Y.;Proskuryakov, A.S.;Shcheglova, L.M.;Zotkin, S.A.;Coppola, N.;Grijpink, S.;Koffeman, E.;Kooijman, P.;Maddox, E.;Pellegrino, A.;Schagen, S.;Tiecke, H.;Velthuis, J.J.;Wiggers, L.;De Wolf, E.;Br?mmer, N.;Bylsma, B.;Durkin, L.S.;Ling, T.Y.;Cooper-Sarkar, A.M.;Cottrell, A.;Devenish, R.C.E.;Foster, B.;Grzelak, G.;Gwenlan, C.;Patel, S.;Straub, P.B.;Walczak, R.;Bertolin, A.;Brugnera, R.;Carlin, R.;Dal Corso, F.;Dusini, S.;Garfagnini, A.;Limentani, S.;Longhin, A.;Parenti, A.;Posocco, M.;Stanco, L.;Turcato, M.;Heaphy, E.A.;Metlica, F.;Oh, B.Y.;Whitmore, J.J.;Iga, Y.;D'Agostini, G.;Marini, G.;Nigro, A.;Cormack, C.;Hart, J.C.;McCubbin, N.A.;Heusch, C.;Park, I.H.;Pavel, N.;Abramowicz, H.;Gabareen, A.;Kananov, S.;Kreisel, A.;Levy, A.;Kuze, M.;Fusayasu, T.;Kagawa, S.;Kohno, T.;Tawara, T.;Yamashita, T.;Hamatsu, R.;Hirose, T.;Inuzuka, M.;Kaji, H.;Kitamura, S.;Matsuzawa, K.;Ferrero, M.I.;Monaco, V.;Sacchi, R.;Solano, A.;Arneodo, M.;Ruspa, M.;Koop, T.;Martin, J.F.;Mirea, A.;Butterworth, J.M.;Hall-Wilton, R.;Jones, T.W.;Lightwood, M.S.;Sutton, M.R.;Targett-Adams, C.;Ciborowski, J.;Ciesielski, R.;?uzniak, P.;Nowak, R.J.;Pawlak, J.M.;Sztuk, J.;Tymieniecka, T.;Ukleja, A.;Ukleja, J.;Zarnecki, A.F.;Adamus, M.;Plucinski, P.;Eisenberg, Y.;Gladilin, L.K.;Hochman, D.;Karshon, U.;Riveline, M.;K?ira, D.;Lammers, S.;Li, L.;Reeder, D.D.;Rosin, M.;Savin, A.A.;Smith, W.H.;Deshpande, A.;Dhawan, S.;Bhadra, S.;Catterall, C.D.;Fourletov, S.;Hartner, G.;Menary, S.;Soares, M.;Standage, J.; Boscherini, D.; Chekanov, S.; Derrick, M.; Krakauer, D.; Loizides, J.H.; Magill, S.; Miglioranzi, S.; Musgrave, B.; Repond, J.; Yoshida, R.; Mattingly, M.C.K.; Antonioli, P.; Bari, G.; Basile, M.; Bellagamba, L. |
| 臺大學術典藏 |
2019-12-27T01:16:39Z |
Erratum: Bottom photoproduction measured using decays into muons in dijet events in ep collisions at s=318GeV (Physical Review D - Particles, Fields, Gravitation and Cosmology (2004) 70, (012008))
|
Dannheim, D.; Drews, G.; Fourletova, J.; Fricke, U.; Geiser, A.; G?ttlicher, P.; Gutsche, O.; Haas, T.; Hain, W.; Hillert, S.; Kahle, B.; K?tz, U.; Kowalski, H.; Kramberger, G.; Labes, H.; Lelas, D.; Lim, H.; L?hr, B.; Mankel, R.; Melzer-Pellmann, I.-A.; Nguyen, C.N.; Notz, D.; Nucio-Quiroz, A.E.; Polini, A.; Raval, A.; Rurua, L.; Schneekloth, U.; St?sslein, U.; Wolf, G.; Youngman, C.; Zeuner, W.; Schlenstedt, S.; Barbagli, G.; Gallo, E.; Genta, C.; Pelfer, P.G.; Bamberger, A.; Benen, A.; Karstens, F.; Dobur, D.; Vlasov, N.N.; Bell, M.; Bussey, P.J.; Doyle, A.T.; Ferrando, J.; Hamilton, J.; Hanlon, S.; Saxon, D.H.; Skillicorn, I.O.; Gialas, I.; Carli, T.; Gosau, T.; Holm, U.; Krumnack, N.; Lohrmann, E.; Milite, M.; Salehi, H.; Schleper, P.; Stonjek, S.; Wichmann, K.; Wick, K.; Ziegler, A.; Ziegler, A.; Collins-Tooth, C.; Foudas, C.; Gon?alo, R.; Long, K.R.; Tapper, A.D.; Cloth, P.; Filges, D.; Kataoka, M.; Nagano, K.; Tokushuku, K.; Yamada, S.; Yamazaki, Y.; Barakbaev, A.N.; Boos, E.G.; Pokrovskiy, N.S.; Zhautykov, B.O.; Son, D.; Piotrzkowski, K.; Barreiro, F.; Glasman, C.; Gonz?lez, O.; Labarga, L.; Del Peso, J.; Tassi, E.; Terr?n, J.; V?zquez, M.; Zambrana, M.; Barbi, M.; Corriveau, F.; Gliga, S.; Lainesse, J.; Padhi, S.; Stairs, D.G.; Walsh, R.; Tsurugai, T.; Antonov, A.; Danilov, P.; Dolgoshein, B.A.; Gladkov, D.; Sosnovtsev, V.; Suchkov, S.; Dementiev, R.K.; Ermolov, P.F.; Golubkov, Yu.A.; Katkov, I.I.; Khein, L.A.; Korzhavina, I.A.; Kuzmin, V.A.; Levchenko, B.B.; Lukina, O.Y.; Proskuryakov, A.S.; Shcheglova, L.M.; Zotkin, S.A.; Coppola, N.; Grijpink, S.; Koffeman, E.; Kooijman, P.; Maddox, E.; Pellegrino, A.; Schagen, S.; Tiecke, H.; Velthuis, J.J.; Wiggers, L.; De Wolf, E.; Br?mmer, N.; Bylsma, B.; Durkin, L.S.; Ling, T.Y.; Cooper-Sarkar, A.M.; Cottrell, A.; Devenish, R.C.E.; Foster, B.; Grzelak, G.; Gwenlan, C.; Patel, S.; Straub, P.B.; Walczak, R.; Bertolin, A.; Brugnera, R.; Carlin, R.; Dal Corso, F.; Dusini, S.; Garfagnini, A.; Limentani, S.; Longhin, A.; Parenti, A.; Posocco, M.; Stanco, L.; Turcato, M.; Heaphy, E.A.; Metlica, F.; Oh, B.Y.; Whitmore, J.J.; Iga, Y.; D'Agostini, G.; Marini, G.; Nigro, A.; Cormack, C.; Hart, J.C.; McCubbin, N.A.; Heusch, C.; Park, I.H.; Pavel, N.; Abramowicz, H.; Gabareen, A.; Kananov, S.; Kreisel, A.; Levy, A.; Kuze, M.; Fusayasu, T.; Kagawa, S.; Kohno, T.; Tawara, T.; Yamashita, T.; Hamatsu, R.; Hirose, T.; Inuzuka, M.; Kaji, H.; Kitamura, S.; Matsuzawa, K.; Ferrero, M.I.; Monaco, V.; Sacchi, R.; Solano, A.; Arneodo, M.; Ruspa, M.; Koop, T.; Martin, J.F.; Mirea, A.; Butterworth, J.M.; Hall-Wilton, R.; Jones, T.W.; Lightwood, M.S.; Sutton, M.R.; Targett-Adams, C.; Ciborowski, J.; Ciesielski, R.; ?uzniak, P.; Nowak, R.J.; Pawlak, J.M.; Sztuk, J.; Tymieniecka, T.; Ukleja, A.; Ukleja, J.; Zarnecki, A.F.; Adamus, M.; Plucinski, P.; Eisenberg, Y.; Gladilin, L.K.; Hochman, D.; Karshon, U.; Riveline, M.; K?ira, D.; Lammers, S.; Li, L.; Reeder, D.D.; Rosin, M.; Savin, A.A.; Smith, W.H.; Deshpande, A.; Dhawan, S.; Bhadra, S.; Catterall, C.D.; Fourletov, S.; Hartner, G.; Menary, S.; Soares, M.; Standage, J.; Stathes Paganis; Stifutkin, A.; Tandler, J.; Voss, K.C.; Wang, M.; Weber, A.; Bailey, D.S.; Brook, N.H.; Cole, J.E.; Heath, G.P.; Namsoo, T.; Robins, S.; Wing, M.; Capua, M.; Mastroberardino, A.; Schioppa, M.; Susinno, G.; Kim, J.Y.; Kim, Y.K.; Lee, J.H.; Lim, I.T.; Pac, M.Y.; Caldwell, A.; Helbich, M.; Liu, X.; Mellado, B.; Ning, Y.; Paganis, S.; Ren, Z.; Schmidke, W.B.; Sciulli, F.; Chwastowski, J.; Eskreys, A.; Figiel, J.; Galas, A.; Olkiewicz, K.; Stopa, P.; Zawiejski, L.; Adamczyk, L.; Bo?d, T.; Grabowska-Bo?d, I.; Kisielewska, D.; Kowal, A.M.; Kowal, M.; Kowalski, T.; Przybycie?, M.; Suszycki, L.; Szuba, D.; Szuba, J.; Kota?ski, A.; S?omi?ski, W.; Adler, V.; Behrens, U.; Bloch, I.; Borras, K.; Chiochia, V.; Bruni, A.; Bruni, G.; Cara Romeo, G.; Cifarelli, L.; Cindolo, F.; Contin, A.; Corradi, M.; De Pasquale, S.; Giusti, P.; Iacobucci, G.; Margiotti, A.; Montanari, A.; Nania, R.; Palmonari, F.; Pesci, A.; Sartorelli, G.; Zichichi, A.; Aghuzumtsyan, G.; Bartsch, D.; Brock, I.; Goers, S.; Hartmann, H.; Hilger, E.; Irrgang, P.; Jakob, H.-P.; Kind, O.; Meyer, U.; Paul, E.; Rautenberg, J.; Renner, R.; Chekanov, S.;Derrick, M.;Krakauer, D.;Loizides, J.H.;Magill, S.;Miglioranzi, S.;Musgrave, B.;Repond, J.;Yoshida, R.;Mattingly, M.C.K.;Antonioli, P.;Bari, G.;Basile, M.;Bellagamba, L.;Boscherini, D.;Bruni, A.;Bruni, G.;Cara Romeo, G.;Cifarelli, L.;Cindolo, F.;Contin, A.;Corradi, M.;De Pasquale, S.;Giusti, P.;Iacobucci, G.;Margiotti, A.;Montanari, A.;Nania, R.;Palmonari, F.;Pesci, A.;Sartorelli, G.;Zichichi, A.;Aghuzumtsyan, G.;Bartsch, D.;Brock, I.;Goers, S.;Hartmann, H.;Hilger, E.;Irrgang, P.;Jakob, H.-P.;Kind, O.;Meyer, U.;Paul, E.;Rautenberg, J.;Renner, R.;Stifutkin, A.;Tandler, J.;Voss, K.C.;Wang, M.;Weber, A.;Bailey, D.S.;Brook, N.H.;Cole, J.E.;Heath, G.P.;Namsoo, T.;Robins, S.;Wing, M.;Capua, M.;Mastroberardino, A.;Schioppa, M.;Susinno, G.;Kim, J.Y.;Kim, Y.K.;Lee, J.H.;Lim, I.T.;Pac, M.Y.;Caldwell, A.;Helbich, M.;Liu, X.;Mellado, B.;Ning, Y.;Paganis, S.;Ren, Z.;Schmidke, W.B.;Sciulli, F.;Chwastowski, J.;Eskreys, A.;Figiel, J.;Galas, A.;Olkiewicz, K.;Stopa, P.;Zawiejski, L.;Adamczyk, L.;Bo?d, T.;Grabowska-Bo?d, I.;Kisielewska, D.;Kowal, A.M.;Kowal, M.;Kowalski, T.;Przybycie?, M.;Suszycki, L.;Szuba, D.;Szuba, J.;Kota?ski, A.;S?omi?ski, W.;Adler, V.;Behrens, U.;Bloch, I.;Borras, K.;Chiochia, V.;Dannheim, D.;Drews, G.;Fourletova, J.;Fricke, U.;Geiser, A.;G?ttlicher, P.;Gutsche, O.;Haas, T.;Hain, W.;Hillert, S.;Kahle, B.;K?tz, U.;Kowalski, H.;Kramberger, G.;Labes, H.;Lelas, D.;Lim, H.;L?hr, B.;Mankel, R.;Melzer-Pellmann, I.-A.;Nguyen, C.N.;Notz, D.;Nucio-Quiroz, A.E.;Polini, A.;Raval, A.;Rurua, L.;Schneekloth, U.;St?sslein, U.;Wolf, G.;Youngman, C.;Zeuner, W.;Schlenstedt, S.;Barbagli, G.;Gallo, E.;Genta, C.;Pelfer, P.G.;Bamberger, A.;Benen, A.;Karstens, F.;Dobur, D.;Vlasov, N.N.;Bell, M.;Bussey, P.J.;Doyle, A.T.;Ferrando, J.;Hamilton, J.;Hanlon, S.;Saxon, D.H.;Skillicorn, I.O.;Gialas, I.;Carli, T.;Gosau, T.;Holm, U.;Krumnack, N.;Lohrmann, E.;Milite, M.;Salehi, H.;Schleper, P.;Stonjek, S.;Wichmann, K.;Wick, K.;Ziegler, A.;Ziegler, A.;Collins-Tooth, C.;Foudas, C.;Gon?alo, R.;Long, K.R.;Tapper, A.D.;Cloth, P.;Filges, D.;Kataoka, M.;Nagano, K.;Tokushuku, K.;Yamada, S.;Yamazaki, Y.;Barakbaev, A.N.;Boos, E.G.;Pokrovskiy, N.S.;Zhautykov, B.O.;Son, D.;Piotrzkowski, K.;Barreiro, F.;Glasman, C.;Gonz?lez, O.;Labarga, L.;Del Peso, J.;Tassi, E.;Terr?n, J.;V?zquez, M.;Zambrana, M.;Barbi, M.;Corriveau, F.;Gliga, S.;Lainesse, J.;Padhi, S.;Stairs, D.G.;Walsh, R.;Tsurugai, T.;Antonov, A.;Danilov, P.;Dolgoshein, B.A.;Gladkov, D.;Sosnovtsev, V.;Suchkov, S.;Dementiev, R.K.;Ermolov, P.F.;Golubkov, Yu.A.;Katkov, I.I.;Khein, L.A.;Korzhavina, I.A.;Kuzmin, V.A.;Levchenko, B.B.;Lukina, O.Y.;Proskuryakov, A.S.;Shcheglova, L.M.;Zotkin, S.A.;Coppola, N.;Grijpink, S.;Koffeman, E.;Kooijman, P.;Maddox, E.;Pellegrino, A.;Schagen, S.;Tiecke, H.;Velthuis, J.J.;Wiggers, L.;De Wolf, E.;Br?mmer, N.;Bylsma, B.;Durkin, L.S.;Ling, T.Y.;Cooper-Sarkar, A.M.;Cottrell, A.;Devenish, R.C.E.;Foster, B.;Grzelak, G.;Gwenlan, C.;Patel, S.;Straub, P.B.;Walczak, R.;Bertolin, A.;Brugnera, R.;Carlin, R.;Dal Corso, F.;Dusini, S.;Garfagnini, A.;Limentani, S.;Longhin, A.;Parenti, A.;Posocco, M.;Stanco, L.;Turcato, M.;Heaphy, E.A.;Metlica, F.;Oh, B.Y.;Whitmore, J.J.;Iga, Y.;D'Agostini, G.;Marini, G.;Nigro, A.;Cormack, C.;Hart, J.C.;McCubbin, N.A.;Heusch, C.;Park, I.H.;Pavel, N.;Abramowicz, H.;Gabareen, A.;Kananov, S.;Kreisel, A.;Levy, A.;Kuze, M.;Fusayasu, T.;Kagawa, S.;Kohno, T.;Tawara, T.;Yamashita, T.;Hamatsu, R.;Hirose, T.;Inuzuka, M.;Kaji, H.;Kitamura, S.;Matsuzawa, K.;Ferrero, M.I.;Monaco, V.;Sacchi, R.;Solano, A.;Arneodo, M.;Ruspa, M.;Koop, T.;Martin, J.F.;Mirea, A.;Butterworth, J.M.;Hall-Wilton, R.;Jones, T.W.;Lightwood, M.S.;Sutton, M.R.;Targett-Adams, C.;Ciborowski, J.;Ciesielski, R.;?uzniak, P.;Nowak, R.J.;Pawlak, J.M.;Sztuk, J.;Tymieniecka, T.;Ukleja, A.;Ukleja, J.;Zarnecki, A.F.;Adamus, M.;Plucinski, P.;Eisenberg, Y.;Gladilin, L.K.;Hochman, D.;Karshon, U.;Riveline, M.;K?ira, D.;Lammers, S.;Li, L.;Reeder, D.D.;Rosin, M.;Savin, A.A.;Smith, W.H.;Deshpande, A.;Dhawan, S.;Bhadra, S.;Catterall, C.D.;Fourletov, S.;Hartner, G.;Menary, S.;Soares, M.;Standage, J.; Boscherini, D.; Chekanov, S.; Derrick, M.; Krakauer, D.; Loizides, J.H.; Magill, S.; Miglioranzi, S.; Musgrave, B.; Repond, J.; Yoshida, R.; Mattingly, M.C.K.; Antonioli, P.; Bari, G.; Basile, M.; Bellagamba, L. |
| 臺大學術典藏 |
2019-12-27T01:16:38Z |
Development of n-on-p silicon sensors for very high radiation environments
|
Jakobs, K.; Kamada, S.; Kierstead, J.; Kodys, P.; Kohler, M.; Kohriki, T.; Kramberger, G.; Lacasta, C.; Li, Z.; Lindgren, S.; Lynn, D.; Mikestikova, M.; Maddock, P.; Mandic, I.; Marti I Garcia, S.; Martinez-Mckinney, F.; Maunu, R.; McCarthy, R.; Metcalfe, J.; Mikuz, M.; Minano, M.; Mitsui, S.; O'Shea, V.; Paganis, S.; Parzefall, U.; Puldon, D.; Robinson, D.; Sadrozinski, H.F.-W.; Sattari, S.; Schamberger, D.; Seidel, S.; Seiden, A.; Terada, S.; Toms, K.; Tsionou, D.; Von Wilpert, J.; Wormald, M.; Wright, J.; Yamada, M.; Yamamura, K.; Stathes Paganis; Unno, Y.; Affolder, A.A.; Allport, P.P.; Bates, R.; Betancourt, C.; Bohm, J.; Brown, H.; Buttar, C.; Carter, J.R.; Casse, G.; Chen, H.; Chilingarov, A.; Cindro, V.; Clark, A.; Dawson, N.; Dewilde, B.; Dolezal, Z.; Eklund, L.; Fadeyev, V.; Ferrere, D.; Fox, H.; French, R.; Garcia, C.; Gerling, M.; Gonzalez Sevilla, S.; Gorelov, I.; Greenall, A.; Grillo, A.A.; Hamasaki, N.; Hara, K.; Hatano, H.; Hoeferkamp, M.; Hommels, L.B.A.; Ikegami, Y. |
| 臺大學術典藏 |
2019-12-27T01:16:38Z |
Testing of surface properties pre-rad and post-rad of n-in-p silicon sensors for very high radiation environment
|
Seidel, S.; Toms, K.; Tsionou, D.; Unno, Y.; Von Wilpert, J.; Wormald, M.; Wright, J.; Yamada, M.; Stathes Paganis; Bohm, J.; Brown, H.; Buttar, C.; Carter, J.R.; Casse, G.; Chen, H.; Chilingarov, A.; Cindro, V.; Clark, A.; Dawson, N.; Dewilde, B.; Doherty, F.; Dolezal, Z.; Eklund, L.; Fadeyev, V.; Ferr?rre, D.; Fox, H.; French, R.; Garc?a, C.; Gerling, M.; Gonzalez Sevilla, S.; Gorelov, I.; Greenall, A.; Grillo, A.A.; Hamasaki, N.; Hara, K.; Hatano, H.; Hoeferkamp, M.; Hommels, L.B.A.; Ikegami, Y.; Jakobs, K.; Kierstead, J.; Kodys, P.; K?hler, M.; Kohriki, T.; Kramberger, G.; Lacasta, C.; Li, Z.; Lynn, D.; Maddock, P.; Mandi?, I.; Martinez-Mckinney, F.; Garcia, S.M.; Maunu, R.; McCarthy, R.; Metcalfe, J.; Mikestikova, M.; Miku?, M.; Mi?ano, M.; Mitsui, S.; O'Shea, V.; Parzefall, U.; Sadrozinski, H.F.-W.; Schamberger, D.; Seiden, A.; Terada, S.; Paganis, S.; Robinson, D.; Puldon, D.; Sattari, S.; Betancourt, C.; Lindgren, S.; Affolder, A.A.; Allport, P.P.; Bates, R. |
| 臺大學術典藏 |
2019-12-27T01:16:37Z |
Testing of bulk radiation damage of n-in-p silicon sensors for very high radiation environments
|
Hara, K.;Affolder, A.A.;Allport, P.P.;Bates, R.;Betancourt, C.;Bohm, J.;Brown, H.;Buttar, C.;Carter, J.R.;Casse, G.;Chen, H.;Chilingarov, A.;Cindro, V.;Clark, A.;Dawson, N.;Dewilde, B.;Doherty, F.;Dolezal, Z.;Eklund, L.;Fadeyev, V.;Ferrere, D.;Fox, H.;French, R.;Garc?a, C.;Gerling, M.;Gonzalez Sevilla, S.;Gorelov, I.;Greenall, A.;Grillo, A.A.;Hamasaki, N.;Hatano, H.;Hoeferkamp, M.;Hommels, L.B.A.;Ikegami, Y.;Jakobs, K.;Kierstead, J.;Kodys, P.;K?hler, M.;Kohriki, T.;Kramberger, G.;Lacasta, C.;Li, Z.;Lindgren, S.;Lynn, D.;Maddock, P.;Mandi?, I.;Martinez-Mckinney, F.;Mart? I Garcia, S.;Maunu, R.;McCarthy, R.;Metcalfe, J.;Mikestikova, M.;Miku?, M.;Mi?ano, M.;Mitsui, S.;O'Shea, V.;Parzefall, U.;Sadrozinski, H.F.-W.;Schamberger, D.;Seiden, A.;Terada, S.;Paganis, S.;Robinson, D.;Puldon, D.;Sattari, S.;Seidel, S.;Takahashi, Y.;Toms, K.;Tsionou, D.;Unno, Y.;Von Wilpert, J.;Wormald, M.;Wright, J.;Yamada, M.; Hara, K.; Affolder, A.A.; Allport, P.P.; Bates, R.; Betancourt, C.; Bohm, J.; Brown, H.; Buttar, C.; Carter, J.R.; Casse, G.; Chen, H.; Chilingarov, A.; Cindro, V.; Clark, A.; Dawson, N.; Dewilde, B.; Doherty, F.; Dolezal, Z.; Eklund, L.; Fadeyev, V.; Ferrere, D.; Fox, H.; French, R.; Garc?a, C.; Gerling, M.; Gonzalez Sevilla, S.; Gorelov, I.; Greenall, A.; Grillo, A.A.; Hamasaki, N.; Hatano, H.; Hoeferkamp, M.; Hommels, L.B.A.; Ikegami, Y.; Jakobs, K.; Kierstead, J.; Kodys, P.; K?hler, M.; Kohriki, T.; Kramberger, G.; Lacasta, C.; Li, Z.; Lindgren, S.; Lynn, D.; Maddock, P.; Mandi?, I.; Martinez-Mckinney, F.; Mart? I Garcia, S.; Maunu, R.; McCarthy, R.; Metcalfe, J.; Mikestikova, M.; Miku?, M.; Mi?ano, M.; Mitsui, S.; O'Shea, V.; Parzefall, U.; Sadrozinski, H.F.-W.; Schamberger, D.; Seiden, A.; Terada, S.; Paganis, S.; Robinson, D.; Puldon, D.; Sattari, S.; Seidel, S.; Takahashi, Y.; Toms, K.; Tsionou, D.; Unno, Y.; Von Wilpert, J.; Wormald, M.; Wright, J.; Yamada, M.; Stathes Paganis |
| 臺大學術典藏 |
2019-12-27T01:16:37Z |
Testing of bulk radiation damage of n-in-p silicon sensors for very high radiation environments
|
Hara, K.;Affolder, A.A.;Allport, P.P.;Bates, R.;Betancourt, C.;Bohm, J.;Brown, H.;Buttar, C.;Carter, J.R.;Casse, G.;Chen, H.;Chilingarov, A.;Cindro, V.;Clark, A.;Dawson, N.;Dewilde, B.;Doherty, F.;Dolezal, Z.;Eklund, L.;Fadeyev, V.;Ferrere, D.;Fox, H.;French, R.;Garc?a, C.;Gerling, M.;Gonzalez Sevilla, S.;Gorelov, I.;Greenall, A.;Grillo, A.A.;Hamasaki, N.;Hatano, H.;Hoeferkamp, M.;Hommels, L.B.A.;Ikegami, Y.;Jakobs, K.;Kierstead, J.;Kodys, P.;K?hler, M.;Kohriki, T.;Kramberger, G.;Lacasta, C.;Li, Z.;Lindgren, S.;Lynn, D.;Maddock, P.;Mandi?, I.;Martinez-Mckinney, F.;Mart? I Garcia, S.;Maunu, R.;McCarthy, R.;Metcalfe, J.;Mikestikova, M.;Miku?, M.;Mi?ano, M.;Mitsui, S.;O'Shea, V.;Parzefall, U.;Sadrozinski, H.F.-W.;Schamberger, D.;Seiden, A.;Terada, S.;Paganis, S.;Robinson, D.;Puldon, D.;Sattari, S.;Seidel, S.;Takahashi, Y.;Toms, K.;Tsionou, D.;Unno, Y.;Von Wilpert, J.;Wormald, M.;Wright, J.;Yamada, M.; Hara, K.; Affolder, A.A.; Allport, P.P.; Bates, R.; Betancourt, C.; Bohm, J.; Brown, H.; Buttar, C.; Carter, J.R.; Casse, G.; Chen, H.; Chilingarov, A.; Cindro, V.; Clark, A.; Dawson, N.; Dewilde, B.; Doherty, F.; Dolezal, Z.; Eklund, L.; Fadeyev, V.; Ferrere, D.; Fox, H.; French, R.; Garc?a, C.; Gerling, M.; Gonzalez Sevilla, S.; Gorelov, I.; Greenall, A.; Grillo, A.A.; Hamasaki, N.; Hatano, H.; Hoeferkamp, M.; Hommels, L.B.A.; Ikegami, Y.; Jakobs, K.; Kierstead, J.; Kodys, P.; K?hler, M.; Kohriki, T.; Kramberger, G.; Lacasta, C.; Li, Z.; Lindgren, S.; Lynn, D.; Maddock, P.; Mandi?, I.; Martinez-Mckinney, F.; Mart? I Garcia, S.; Maunu, R.; McCarthy, R.; Metcalfe, J.; Mikestikova, M.; Miku?, M.; Mi?ano, M.; Mitsui, S.; O'Shea, V.; Parzefall, U.; Sadrozinski, H.F.-W.; Schamberger, D.; Seiden, A.; Terada, S.; Paganis, S.; Robinson, D.; Puldon, D.; Sattari, S.; Seidel, S.; Takahashi, Y.; Toms, K.; Tsionou, D.; Unno, Y.; Von Wilpert, J.; Wormald, M.; Wright, J.; Yamada, M.; Stathes Paganis |
| 臺大學術典藏 |
2019-12-27T01:16:37Z |
Evaluation of the bulk and strip characteristics of large area n-in-p silicon sensors intended for a very high radiation environment
|
Lacasta, C.; Li, Z.; Lindgren, S.; Lynn, D.; Maddock, P.; Mandic, I.; Marti I Garcia, S.; Martinez-Mckinney, F.; Maunu, R.; McCarthy, R.; Metcalfe, J.; Mikuz, M.; Minano, M.; Mitsui, S.; O'Shea, V.; Paganis, S.; Parzefall, U.; Puldon, D.; Robinson, D.; Sadrozinski, H.F.-W.; Sattari, S.; Schamberger, D.; Seidel, S.; Seiden, A.; Soldevila, U.; Terada, S.; Toms, K.; Tsionou, D.; Unno, Y.; Von Wilpert, J.; Wormald, M.; Wright, J.; Yamada, M.; Stathes Paganis; Bohm, J.; Mikestikova, M.; Affolder, A.A.; Allport, P.P.; Bates, R.; Betancourt, C.; Brown, H.; Buttar, C.; Carter, J.R.; Casse, G.; Chen, H.; Chilingarov, A.; Cindro, V.; Clark, A.; Dawson, N.; Dewilde, B.; Doherty, F.; Dolezal, Z.; Eklund, L.; Fadeyev, V.; Ferrere, D.; Fox, H.; French, R.; Garcia, C.; Gerling, M.; Gonzalez Sevilla, S.; Gorelov, I.; Greenall, A.; Grillo, A.A.; Hara, K.; Hatano, H.; Hoeferkamp, M.; Hommels, L.B.A.; Ikegami, Y.; Jakobs, K.; Kierstead, J.; Kodys, P.; K?hler, M.; Kohriki, T.; Krambergen, G. |
| 臺大學術典藏 |
2019-12-27T01:15:22Z |
Exclusion of heavy, broad resonances from precise measurements of WZ and VH final states at the LHC
|
Stathes Paganis; Li, Y.-Y.; Nicolaidou, R.; Paganis, S. |
| 臺大學術典藏 |
2018-09-10T15:25:32Z |
Cryogenic Gaseous Photomultiplier for Position Reconstruction of Liquid Argon Scintillation Light
|
Paredes, B. Lopez; Azevedo, C. D. R.; Paganis, S.; Silva, A. L. M.; Spooner, N. J. C.; Veloso, J. F. C. A.; Stathes Paganis |
| 臺大學術典藏 |
2018-09-10T15:00:04Z |
Measurement of the luminosity in the ZEUS experiment at HERA II
|
Stathes Paganis; Adamczyk, L. and Andruszkow, J. and Bold, T. and Borzemski, P. and Buettner, C. and Caldwell, A. and Chwastowski, J. and Daniluk, W. and Drugakov, V. and Eskreys, A. and Figiel, J. and Galas, A. and Gil, M. and Helbich, M. and Januschek, F. and Jurkiewicz, P. and Kisielewska, D. and Klein, U. and Kotarba, A. and Lohmann, W. and Ning, Y. and Oliwa, K. and Olkiewicz, K. and Paganis, S. and Pieron, J. and Przybycien, M. and Ren, Z. and Ruchlewicz, W. and Schmidke, W. and Schneekloth, U. and Sciulli, F. and Stopa, P. and Sztuk-Dambietz, J. and Suszycki, L. and Sutiak, J. and Wierba, W. and Zawiejski, L.; ruszkow, J.; Bold, T.; Borzemski, P.; Buettner, C.; Caldwell, A.; Chwastowski, J.; Daniluk, W.; Drugakov, V.; Eskreys, A.; Figiel, J.; Galas, A.; Gil, M.; Helbich, M.; Januschek, F.; Jurkiewicz, P.; Kisielewska, D.; Klein, U.; Kotarba, A.; Lohmann, W.; Ning, Y.; Oliwa, K.; Olkiewicz, K.; Paganis, S.; Pieron, J.; Przybycien, M.; Ren, Z.; Ruchlewicz, W.; Schmidke, W.; Schneekloth, U.; Sciulli, F.; Stopa, P.; Sztuk-Dambietz, J.; Suszycki, L.; Sutiak, J.; Wierba, W.; Zawiejski, L. |
| 臺大學術典藏 |
2018-09-10T15:00:04Z |
Probing compositeness with Higgs Boson decays at the LHC
|
Hoffmann, M.; Kaminska, A.; Nicolaidou, R.; Paganis, S.; Stathes Paganis |
| 臺大學術典藏 |
2018-09-10T08:45:42Z |
Testing of bulk radiation damage of n-in-p silicon sensors for very high radiation environments
|
Affolder, A.A.; Allport, P.P.; Bates, R.; Betancourt, C.; Bohm, J.; Brown, H.; Buttar, C.; Carter, J.R.; Casse, G.; Chen, H.; Chilingarov, A.; Cindro, V.; Clark, A.; Dawson, N.; Dewilde, B.; Doherty, F.; Dolezal, Z.; Eklund, L.; Fadeyev, V.; Ferrere, D.; Fox, H.; French, R.; Garc\\'ia, C.; Gerling, M.; Gonzalez Sevilla, S.; Gorelov, I.; Greenall, A.; Grillo, A.A.; Hamasaki, N.; Hatano, H.; Hoeferkamp, M.; Hommels, L.B.A.; Ikegami, Y.; Jakobs, K.; Kierstead, J.; Kodys, P.; K\\ohler, M.; Kohriki, T.; Kramberger, G.; Lacasta, C.; Li, Z.; Lindgren, S.; Lynn, D.; Maddock, P.; M; i?, I.; Martinez-Mckinney, F.; Mart\\'i I Garcia, S.; Maunu, R.; McCarthy, R.; Metcalfe, J.; Mikestikova, M.; Miku?, M.; Mi\\~nano, M.; Mitsui, S.; O'Shea, V.; Parzefall, U.; Sadrozinski, H.F.-W.; Schamberger, D.; Seiden, A.; Terada, S.; Paganis, S.; Robinson, D.; Puldon, D.; Sattari, S.; Seidel, S.; Takahashi, Y.; Toms, K.; Tsionou, D.; Unno, Y.; Von Wilpert, J.; Wormald, M.; Wright, J.; Yamada, M.; Hara, K.; Stathes Paganis et al. |
| 臺大學術典藏 |
2018-09-10T08:45:42Z |
Testing of surface properties pre-rad and post-rad of n-in-p silicon sensors for very high radiation environment
|
Affolder, A.A.; Allport, P.P.; Bates, R.; Betancourt, C.; Bohm, J.; Brown, H.; Buttar, C.; Carter, J.R.; Casse, G.; Chen, H.; Chilingarov, A.; Cindro, V.; Clark, A.; Dawson, N.; Dewilde, B.; Doherty, F.; Dolezal, Z.; Eklund, L.; Fadeyev, V.; Ferr\\`erre, D.; Fox, H.; French, R.; Garc\\'ia, C.; Gerling, M.; Gonzalez Sevilla, S.; Gorelov, I.; Greenall, A.; Grillo, A.A.; Hamasaki, N.; Hara, K.; Hatano, H.; Hoeferkamp, M.; Hommels, L.B.A.; Ikegami, Y.; Jakobs, K.; Kierstead, J.; Kodys, P.; K\\ohler, M.; Kohriki, T.; Kramberger, G.; Lacasta, C.; Li, Z.; Lynn, D.; Maddock, P.; M; i?, I.; Martinez-Mckinney, F.; Garcia, S.M.; Maunu, R.; McCarthy, R.; Metcalfe, J.; Mikestikova, M.; Miku?, M.; Mi\\~nano, M.; Mitsui, S.; O'Shea, V.; Parzefall, U.; Sadrozinski, H.F.-W.; Schamberger, D.; Seiden, A.; Terada, S.; Paganis, S.; Robinson, D.; Puldon, D.; Sattari, S.; Seidel, S.; Toms, K.; Tsionou, D.; Unno, Y.; Von Wilpert, J.; Wormald, M.; Wright, J.; Yamada, M.; Lindgren, S.; Stathes Paganis et al. |
| 臺大學術典藏 |
2018-09-10T08:45:41Z |
Evaluation of the bulk and strip characteristics of large area n-in-p silicon sensors intended for a very high radiation environment
|
Stathes Paganis; Mikestikova, M.; Affolder, A.A.; Allport, P.P.; Bates, R.; Betancourt, C.; Brown, H.; Buttar, C.; Carter, J.R.; Casse, G.; Chen, H.; Chilingarov, A.; Cindro, V.; Clark, A.; Dawson, N.; Dewilde, B.; Doherty, F.; Dolezal, Z.; Eklund, L.; Fadeyev, V.; Ferrere, D.; Fox, H.; French, R.; Garcia, C.; Gerling, M.; Gonzalez Sevilla, S.; Gorelov, I.; Greenall, A.; Grillo, A.A.; Hara, K.; Hatano, H.; Hoeferkamp, M.; Hommels, L.B.A.; Ikegami, Y.; Jakobs, K.; Kierstead, J.; Kodys, P.; K\\ohler, M.; Kohriki, T.; Krambergen, G.; Lacasta, C.; Li, Z.; Lindgren, S.; Lynn, D.; Maddock, P.; M; ic, I.; Marti I Garcia, S.; Martinez-Mckinney, F.; Maunu, R.; McCarthy, R.; Metcalfe, J.; Mikuz, M.; Minano, M.; Mitsui, S.; O'Shea, V.; Paganis, S.; Parzefall, U.; Puldon, D.; Robinson, D.; Sadrozinski, H.F.-W.; Sattari, S.; Schamberger, D.; Seidel, S.; Seiden, A.; Soldevila, U.; Terada, S.; Toms, K.; Tsionou, D.; Unno, Y.; Von Wilpert, J.; Wormald, M.; Wright, J.; Yamada, M. |
| 臺大學術典藏 |
2018-09-10T08:45:40Z |
A 2D fit with background measurement constraints to boost the Higgs →ZZ(*)→4ℓ discovery potential at the LHC
|
Anastopoulos, C.; Kerschen, N.; Paganis, S.; Anastopoulos, C.; Kerschen, N.; Paganis, S.; Stathes Paganis |
Showing items 1-25 of 55 (3 Page(s) Totally)
1 2 3 > >>
View [10|25|50] records per page
|
