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机构	日期	题名	作者
國立交通大學	2014-12-08T15:24:48Z	Investigation of hot carrier degradation modes in LDMOS by using a novel three-region charge pumping technique	Cheng, C. C.; Tu, K. C.; Wang, Tahui; Hsieh, T. H.; Tzeng, J. T.; Jong, Y. C.; Liou, R. S.; Pan, Sam C.; Hsu, S. L.

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