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机构 日期 题名 作者
國立交通大學 2014-12-08T15:33:02Z Method for Determining the Angle in Two Dimension Nanoscale: Pitch Grating Pan, Shan-Peng; Liu, Tzong-Shi; Tasi, Min-Ching; Liou, Huay-Chung
國立交通大學 2014-12-08T15:33:00Z Grating Pitch Measurement Beyond the Diffraction Limit with Modified Laser Diffractometry Pan, Shan-Peng; Liu, Tzong-Shi; Tasi, Min-Ching; Liou, Huay-Chung
國立交通大學 2014-12-08T15:13:39Z Liquid refractometer based on immersion diffractometry Lu, Sheng-Hua; Pan, Shan-Peng; Liu, Tzong-Shi; Kao, Ching-Fen
國立交通大學 2014-12-08T15:07:41Z Precision Measurement of Sub-50 nm Linewidth by Stitching Double-Tilt Images Pan, Shan-Peng; Liou, Huay-Chung; Chen, Chao-Chang A.; Chen, Jr-Rung; Liu, Tzong-Shi
國立交通大學 2014-12-08T15:07:41Z Uncertainty Analysis on Precision Measurement for Polystyrene Nanospheres Using Dynamic Light Scattering Pan, Shan-Peng; Weng, Han-Fu; Lin, Chih-Min; Liu, Tzong-Shi

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