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机构	日期	题名	作者
國立臺灣大學	1997-01	Raman scattering as a characterization tool for epitaxial GaN thin films grown on sapphire by turbo disk metalorganic chemical vapor deposition	Feng, Z.C.; Schurman, M.; Stall, R.A.; Pavloski &, M.; Whitley, A.

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