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机构	日期	题名	作者
國立臺灣科技大學	2005	Process capability assessment for index Cpk based on Bayesian approach	Pearn, W. L. ; Wu, Chien-Wei
國立臺灣科技大學	2005	Capability testing based on Cpm with multiple samples	Wu, Chien-Wei; Pearn, W. L.
國立勤益科技大學	2004	The C”pk index for asymmetric tolerances: Implications and inference	Pearn, W.L.; Lin, P.C.; Chen, K.S.
國立勤益科技大學	2004	The C”pk index for asymmetric tolerances: Implications and inference	Pearn, W.L. ; Lin, P.-C. ; Chen, K.-S.
國立勤益科技大學	2004	Testing process performance based on capability indexCpk with critical values	Pearn, W.L. ; Lin, P.-C.
國立臺灣科技大學	2004	Procedure for supplier selection based on Cpm applied to super twisted nematic liquid crystal display processes	Pearn, W. L. ; Wu, Chien-Wei; Lin, H. C.
國立臺灣科技大學	2004	Quality-yield measure for production with very low fraction of defectives	Pearn, W. L. ; Chang, Y. C. ; Wu, Chien-Wei
國立臺灣科技大學	2004	Distributional and inferential properties of the process loss indices	Pearn, W. L. ; Chang, Y. C. ; Wu, Chien-Wei
大葉大學	2003-06	Distributional and inferential Properties of the Estimated Precision Cp based on Multiple Samples	Pearn, W. L.;Yang, Y. S.
國立勤益科技大學	2003	Capability Measures For processes With Multiple Characteristics	Chen, K.S.; Pearn, W.L.; Lin, P.C.
國立勤益科技大學	2003	Distributional properties and implications of the estimated process incapability index	Lin, P.C. ; Pearn, W.L. ; Chen, K. S.
國立勤益科技大學	2002	Testing process performance based on the yield: an application to the liquid-crystal display module	Chen, Jann-Pygn ; Pearn, W.L.
國立勤益科技大學	2002	One-sided capability indices Cpu and Cpl: decision making with sample information	Pearn, W.L.; Chen, K.S.
國立勤益科技大學	2002	Testing process capability for one-sided specification limit with application to the voltage level translator	Lin, P.-C. ; Pearn, W.L.
國立勤益科技大學	2002	A Practical Implementation of the Incapability Index Cpp	Pearn, W.L. ; Chen, K.L. ; Chen, K.S.
國立勤益科技大學	2001	Testing process capability using the index Cpmk with an application	Pearn, W.L.; Yang, S.L.; Chen, K.S.; Lin, P.C.
國立勤益科技大學	2001	Estimating process capability index C”pmk asymmetric tolerances: distributional properties	Pearn, W.L.; Lin, P.C.; Chen, K.S.
國立勤益科技大學	2001	Testing process capability using the index Cpmk with an application	Pearn, W.L. ; Yang, S.-L. ; Chen, K.-S. ; Lin, P.-C.
國立勤益科技大學	2001	Estimating process capability index C”pmk for asymmetric tolerances: Distributional properties	Pearn, W.L. ; Lin, P.-C. ; Chen, K.-S.
國立勤益科技大學	2001	Capability indices for processes with asymmetric tolerances	Chen, K.S. ; Pearn, W.L.
國立勤益科技大學	1999	Making decisions in assessing process capability index Cpk	Pearn, W.L.; Chen, K.S.
國立勤益科技大學	1999	A generalization of Clements' method for non-normal Pearsonian processes with asymmetric tolerances	Pearn, W.L. ; Chen, K.S. ; Lin, G.H.
國立勤益科技大學	1999	A new generalization of Cpm for processes with asymmetric tolerances	Chen, K.-S.;Pearn, W.L.; Lin, P.-C.
國立勤益科技大學	1999	A new generalization of Cpm for processes with asymmetric tolerances	Chen, K.S. ; Pearn, W.L. ; Lin, P.C.
國立勤益科技大學	1998	Distributional and inferential properties of the process accuracy and process precision indices	Pearn, W.L. ; Lin, G.H. ; Chen, K.S.

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