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| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:48:15Z |
良率指標Spk的抽樣性質與樣本資訊下估計良率的精準度
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鄭雅靜; Cheng, Ya-Ching; 彭文理; Pearn, W.L. |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:32:26Z |
雙邊規格CNpk信賴下界複式抽樣計算方法
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蕭依芳; Hsiao, I-Fang; 彭文理; Pearn, W. L. |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:19:19Z |
製程能力弱度指標的管制圖
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柯昭華; Ko, C. H.; 彭文理; Pearn, W. L. |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:19:19Z |
製程能力弱度指標的實務應用
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陳貴琳; Chen, K. L.; 彭文理; Pearn W. L. |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T01:58:22Z |
單邊規格多品質特性製程能力指標CpuT的信賴下限
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魏瑜萱; Wei, Yu-Hsuan; 彭文理; Pearn, W. L. |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T01:58:21Z |
具工單等級之液晶注入排程問題研究
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鄧光陵; Deng, Kuang Ling; 彭文理; 戴于婷; Pearn, W.L.; Tai, Y. T. |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T01:30:55Z |
多品質特性製程的製程能力指標 CpkT 的分布和推論
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李美諭; Li, Mei-Yu; 洪志真; 彭文理; Jyh-Jen, Horng Shiau; Pearn, W.L. |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T01:30:54Z |
多變量製程能力指標之研究
|
李婉慈; Lee, Wan-Tsz; 洪志真; 彭文理; Horng, Jyh-Jen Shiau; Pearn, W. L. |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T01:25:37Z |
具有多項異常原因之 X-bar管制圖經濟設計
|
蘇珈儀; Su, Chia-Yi; 彭文理; Pearn, W. L. |
| 國立交通大學 |
2014-12-08T15:48:38Z |
Estimating and testing process accuracy with extension to asymmetric tolerances
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Wu, Chien-Wei; Shu, Ming-Hung; Pearn, W. L.; Tai, Yi-Chang |
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