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机构	日期	题名	作者
亞洲大學	2016-05	Defect Inspection of Patterned Thin-film Ceramic Light-emitting Diode Substrate Using a Fast Randomized Principal Component Analysis	Perng；, 劉曉薇；Hsiao-Wei Liu；陳思翰；Ssu-Han Chen；*；彭德保；Der-Baau
亞洲大學	2016-05	Defect Inspection of Patterned Thin-film Ceramic Light-emitting Diode Substrate Using a Fast Randomized Principal Component Analysis	Perng；, 劉曉薇；Hsiao-Wei Liu；陳思翰；Ssu-Han Chen；*；彭德保；Der-Baau

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