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机构	日期	题名	作者
臺大學術典藏	2021-10-14T01:16:08Z	Nano–scale One-shot Microscopic Surface Profilometry Employing Two-wavelength Simultaneous Phase Shifting Interferometry	Liang-Chia Chen; Phan Van Tiep; Abraham Mario Tapilouw; Shyh-Tsong Lin; Sheng-Lih Yeh; Pham Hong Tua; LIANG-CHIA CHEN

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