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机构	日期	题名	作者
國立臺灣科技大學	2005	Non-destructive, room temperature characterization of wafer-sized III-V semiconductor device structures using contactless electromodulation and wavelength-modulated surface photovoltage spectroscopy	Huang Y.S.; Pollak F.H.
國立臺灣大學	1997-01	Temperature dependence of the energies and broadening parameters of the interband transitions in Ga0.95Al0.05N	Malikova, L.; Huang, Y.-S.; Pollak, F.H.; Feng, Z.C.; Schurman, M.; Tran, C.A.; Salagaj, T.; Stall, R.A.

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