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机构 日期 题名 作者
義守大學 2000-06 Effects of O-2 rapid thermal annealing on the microstructural properties and reliability of RF-sputtered Ta2O5 films Ching-Wu Wang;Ren-De Lin;Shih-Fang Chen;Wen-Kuan Lin
義守大學 1999 快速熱退火及珈瑪射線對氧化鉭薄膜的特性、傳導機制及可靠性的影響 林仁德; Ren De Lin

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