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机构 日期 题名 作者
國立交通大學 2014-12-12T02:02:39Z 橢圓儀與光譜儀在複晶矽厚度測量上之應用 蘇啟孟; Su, Qi-Meng; 李崇仁; 任建葳; Li, Chong-Ren; Ren, Jian-Wei
國立交通大學 2014-12-12T02:02:39Z 建立於HP 9845 上的元件測試及特性分析系統 朱元華; Zhu, Yuan-Hua; 李崇仁; 任建葳; Li, Chong-Ren; Ren, Jian-Wei
國立交通大學 2014-12-12T02:02:39Z 金氧半電晶體之薄閘極氧化層的製作與特性分析 何昭煌; He, Zhao-Huang; 李崇仁; 任建葳; Li, Chong-Ren; Ren, Jian-Wei
國立交通大學 2014-12-12T02:02:38Z 逆偏壓下之金屬-絕緣層-半導體結構 任建葳; Ren, Jian-Wei; 李崇仁; Li, Chong-Ren

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