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| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:02:39Z |
橢圓儀與光譜儀在複晶矽厚度測量上之應用
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蘇啟孟; Su, Qi-Meng; 李崇仁; 任建葳; Li, Chong-Ren; Ren, Jian-Wei |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:02:39Z |
建立於HP 9845 上的元件測試及特性分析系統
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朱元華; Zhu, Yuan-Hua; 李崇仁; 任建葳; Li, Chong-Ren; Ren, Jian-Wei |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:02:39Z |
金氧半電晶體之薄閘極氧化層的製作與特性分析
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何昭煌; He, Zhao-Huang; 李崇仁; 任建葳; Li, Chong-Ren; Ren, Jian-Wei |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:02:38Z |
逆偏壓下之金屬－絕緣層－半導體結構
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任建葳; Ren, Jian-Wei; 李崇仁; Li, Chong-Ren |
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