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机构	日期	题名	作者
國立交通大學	2014-12-08T15:06:25Z	CHARACTERIZATION OF MONOLITHIC POLYCRYSTALLINE-SILICON RESISTORS IN SUB-MICRON THICKNESS	LU, NCC; LU, CY; LEE, MK; SHIH, CC; WANG, CS; SHENG, TT; REUTER, W
國立交通大學	2014-12-08T15:06:17Z	THE EFFECT OF FILM THICKNESS ON THE ELECTRICAL-PROPERTIES OF LPCVD POLYSILICON FILMS	LU, NCC; LU, CY; LEE, MK; SHIH, CC; WANG, CS; REUTER, W; SHENG, TT

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