C. T. Li; Y. J. Hwang; H. Jiang; P. Altamirano; C. H. Chang; S. H. Chang; S.W.Chang; T. D. Chiueh; T. H. Chu; C. C. Han; Y. D. Huang; M. Kesteven; D. Kubo; P. M. Cocher; P. Oshiro; P. Raffin; T. Wei; H. Wang; W. Wilson; P. T. P. Ho; C. W. Huan; M. T. Chen; TAH HSIUNG CHU et al.