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國立成功大學	2008-04	Effect of etch stop layer stress on negative bias temperature instability of deep submicron p-type metal-oxide-semiconductor field effect transistors with dual gate oxide	Chen, Ming-Shing; Fang, Yean-Kuen; Lee, Tung-Hsing; Lin, Chien-Ting; Chiang, Yen-Ting; Ko, Joe; Sheu, Yau Kae; Shen, Tsong Lin; Liao, Wen Yi

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