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机构	日期	题名	作者
臺大學術典藏	2010	Electron microscopy investigations of V defects in multiple InGaN/GaN quantum wells and InGaN quantum dots	YangJR; Shiojiri, M.; Hsu, J.T.; Li, W.C.; Tsai, H.L.; Yang, J.R.; Yang, J.R.; Li, W.C.; Tsai, H.L.; Hsu, J.T.; Shiojiri, M.Y

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