臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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机构	日期	题名	作者
臺大學術典藏	2018-09-10T09:50:56Z	Automatic Test Pattern Generation for Delay Defects Using Timed Characteristic Functions	Shin-Yann Ho;Shuo-Ren Lin;Ko-Lung Yuan;Chien-Yen Kuo;Kuan-Yu Liao;Jie-Hong R. Jiang;Chien-Mo James Li; Shin-Yann Ho; Shuo-Ren Lin; Ko-Lung Yuan; Chien-Yen Kuo; Kuan-Yu Liao; Jie-Hong R. Jiang; Chien-Mo James Li; JIE-HONG JIANG
臺大學術典藏	2018-09-10T09:50:56Z	Automatic Test Pattern Generation for Delay Defects Using Timed Characteristic Functions	Shin-Yann Ho;Shuo-Ren Lin;Ko-Lung Yuan;Chien-Yen Kuo;Kuan-Yu Liao;Jie-Hong R. Jiang;Chien-Mo James Li; Shin-Yann Ho; Shuo-Ren Lin; Ko-Lung Yuan; Chien-Yen Kuo; Kuan-Yu Liao; Jie-Hong R. Jiang; Chien-Mo James Li; JIE-HONG JIANG
臺大學術典藏	2018-09-10T09:50:55Z	Software Workarounds for Hardware Errors: Instruction Patch Synthesis	Tsung-Po Liu;Shuo-Ren Lin;Jie-Hong R. Jiang; Tsung-Po Liu; Shuo-Ren Lin; Jie-Hong R. Jiang; JIE-HONG JIANG
臺大學術典藏	2018-09-10T09:50:55Z	Software Workarounds for Hardware Errors: Instruction Patch Synthesis	Tsung-Po Liu;Shuo-Ren Lin;Jie-Hong R. Jiang; Tsung-Po Liu; Shuo-Ren Lin; Jie-Hong R. Jiang; JIE-HONG JIANG
臺大學術典藏	2018-09-10T09:50:54Z	Automatic Test Pattern Generation for Delay Defects Using Timed Characteristic Functions	Shin-Yann Ho;Shuo-Ren Lin;Ko-Lung Yuan;Chien-Yen Kuo;Kuan-Yu Liao;Jie-Hong Rol Jiang;Chien-Mo Li; Shin-Yann Ho; Shuo-Ren Lin; Ko-Lung Yuan; Chien-Yen Kuo; Kuan-Yu Liao; Jie-Hong Rol Jiang; Chien-Mo Li; CHIEN-MO LI
臺大學術典藏	2018-09-10T09:50:54Z	Automatic Test Pattern Generation for Delay Defects Using Timed Characteristic Functions	Shin-Yann Ho;Shuo-Ren Lin;Ko-Lung Yuan;Chien-Yen Kuo;Kuan-Yu Liao;Jie-Hong Rol Jiang;Chien-Mo Li; Shin-Yann Ho; Shuo-Ren Lin; Ko-Lung Yuan; Chien-Yen Kuo; Kuan-Yu Liao; Jie-Hong Rol Jiang; Chien-Mo Li; CHIEN-MO LI

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