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機構 日期 題名 作者
國立臺灣大學 1988 Analysis of Valence Shell Electronic Excitations in Si and Its Refractory Compounds Using Electron Energy Loss Microspectroscopy Skiff, W. M.; Carpenter, R. W.; 林聖賢; Skiff, W. M.; Carpenter, R. W.; Lin, Sheng-Hsien
國立臺灣大學 1988 K,L,M,N,O and P Ionization Cross Sections for Electron Energy Loss Spectroscopy Skiff, W. M.; Carpenter, R. W.; 林聖賢; Skiff, W. M.; Carpenter, R. W.; Lin, Sheng-Hsien
國立臺灣大學 1987 Near-edge Fine Structure Analysis of Core Shell Electronic Absorption Edges in Si and Its Refractory Compounds Using Electron Energy Loss Microscopy Skiff, W. M.; Carpenter, R. W.; 林聖賢; Skiff, W. M.; Carpenter, R. W.; Lin, Sheng-Hsien
國立臺灣大學 1985 SiL Core Edge Fine Structure in an Oxidation Series of Silicon Compounds:a Comparison of Micro Electron Energy Loss Spectra with Theory Skiff, W. M.; Carpenter, R. W.; 林聖賢; Skiff, W. M.; Carpenter, R. W.; Lin, Sheng-Hsien

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