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國立交通大學 2018-10-11 NONVOLATILE MEMORY AND ITS OPERATION METHOD THEREOF E-Ray HSIEH; Steve S. CHUNG
國立交通大學 2017-08-03 STRUCTURE AND FORMATION METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE STRUCTURE Yi-Hsien LIN; E-Ray HSIEH; Steve S. CHUNG
國立交通大學 2017-02-02 DIELECTRIC FUSE MEMORY CIRCUIT AND OPERATION METHOD THEREOF Zhi-Hong HUANG; E-Ray HSIEH; Steve S. CHUNG
國立交通大學 2014-12-12T02:28:17Z 深次微米與奈米金氧半元件氧化層界面與製程導致元件可靠性的探討 陳尚志; Shang-Jr Chen; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學 2014-12-12T02:28:05Z 利用汲極端包覆性植入結構改善快閃記憶體的性能與可靠性之研究 林新富; Lin Hsin-Fu; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學 2014-12-12T02:28:04Z 利用閘二極體量測法評估雙閘極金氧半電晶體的熱載子和負偏壓溫度可靠性 羅大剛; Da-Kang Lo; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學 2014-12-12T02:25:37Z 使用多重氧化層技術成長之雙閘極金氧半元件偏壓與溫度效應之可靠性研究 林清淳; Ching-Chung Lin; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學 2014-12-12T02:25:37Z 利用汲極崩潰熱電子注入操作的快閃式記憶體元件性能及可靠性研究 陳映仁; Yin Jen Chen; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學 2014-12-12T02:25:36Z 不同浮動閘極材料P通道快閃記憶體性能與可靠性之改進 蔡皓偉; Hao-Wei Tsai; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學 2014-12-12T02:24:32Z 高介電氧化層MOSFET元件之低漏電電荷幫浦量測技術 朱益輝; Yi - Huei Ju; 莊紹勳; Steve S. Chung

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