English  |  正體中文  |  简体中文  |  0  
???header.visitor??? :  53333159    ???header.onlineuser??? :  751
???header.sponsordeclaration???
 
臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)
???ui.leftmenu.abouttair???

???ui.leftmenu.bartitle???

???index.news???

???ui.leftmenu.copyrighttitle???

???ui.leftmenu.link???

"steve s chung"???jsp.browse.items-by-author.description???

???jsp.browse.items-by-author.back???
???jsp.browse.items-by-author.order1??? ???jsp.browse.items-by-author.order2???

Showing items 16-25 of 37  (4 Page(s) Totally)
<< < 1 2 3 4 > >>
View [10|25|50] records per page

Institution Date Title Author
國立交通大學 2014-12-12T02:20:51Z 利用P型浮動閘極材料改善N通道快閃記憶體的性能與可靠性之研究 何之浩; Zhi-Hao Ho; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學 2014-12-12T02:20:51Z 可用於快閃式記憶體反覆寫入抹除前後之直流與暫態模式 吳尚修; Shang-Hsiu Wu; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學 2014-12-12T02:20:51Z 淺凹槽隔離深次微米互補金氧半元件窄寬度效應熱載子可靠性的研究 楊文杰; Wen-Jei Yang; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學 2014-12-12T02:20:50Z 快閃式記憶元件中熱載子注入導致的可靠性問題研究 易成名; Cherng-Ming Yih; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學 2014-12-12T02:17:33Z 高介電係數夾層LDD N型金氧半元件可靠性設計之探討 王政烈; Wang, Cheng-Lieh; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學 2014-12-12T02:17:32Z P通道金屬半快閃式記憶體中不同程式化的可靠性評估 郭松年; Kuo, Song-Nian; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學 2014-12-12T02:15:40Z 次微米MOS元件中熱電子導致氧化層傷害及元件特性退化分析 李建宏; Lee, Giahn-Horng; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學 2014-12-12T02:15:38Z 供電路模擬器SPICE使用之複晶矽薄膜電晶體模式 鄭基廷; Cheng, Chi-Ting; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學 2014-12-12T02:15:32Z 半空乏型矽氧化絕緣基片MOS元件之熱電子可靠性 葉俊祺; Yeh, Jun-Chyi; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學 2014-12-12T02:12:11Z VLSI可靠性中由熱載子產生氧化層傷害的模式與模擬 蘇振順; jen-Shien Su; 莊紹勳; Steve S. Chung

Showing items 16-25 of 37  (4 Page(s) Totally)
<< < 1 2 3 4 > >>
View [10|25|50] records per page