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教育部委託研究計畫 計畫執行:國立臺灣大學圖書館
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| 國立交通大學 |
2018-01-24T07:38:13Z |
全包覆式閘極三五族穿隧式電晶體的直徑最佳化及短通道效應之理論探討
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王佑瑋; 蘇彬; Wang, Yu-Wei; Su, Pin |
| 國立交通大學 |
2018-01-24T07:36:57Z |
高遷移率通道三閘極電晶體 之靜電完整性的理論研究
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吳杼樺; 蘇彬; Wu, Shu-Hua; Su, Pin |
| 國立交通大學 |
2017-04-21T06:56:35Z |
A Compact Subthreshold Model for Short-Channel Monolayer Transition Metal Dichalcogenide Field-Effect Transistors
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You, Wei-Xiang; Su, Pin |
| 國立交通大學 |
2017-04-21T06:56:15Z |
Impact of Random Variations on Cell Stability and Write-Ability of Low-Voltage SRAMs Using Monolayer and Bilayer Transition Metal Dichalcogenide (TMD) MOSFETs
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Yu, Chang-Hung; Su, Pin; Chuang, Ching-Te |
| 國立交通大學 |
2017-04-21T06:55:34Z |
Investigation and Simulation of Work-Function Variation for III-V Broken-Gap Heterojunction Tunnel FET
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Hsu, Chih-Wei; Fan, Ming-Long; Hu, Vita Pi-Ho; Su, Pin |
| 國立交通大學 |
2017-04-21T06:50:14Z |
Anomalous Electrostatics and Intrinsic Variability in GeOI p-MOSFET
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Yu, Chang-Hung; Su, Pin |
| 國立交通大學 |
2017-04-21T06:50:10Z |
Evaluation of Energy-Efficient Latch Circuits with Hybrid Tunneling FET and FinFET Devices for Ultra-Low-Voltage Applications
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Wu, Tse-Ching; Chen, Chien-Ju; Chen, Yin-Nien; Hu, Vita Pi-Ho; Su, Pin; Chuang, Ching-Te |
| 國立交通大學 |
2017-04-21T06:50:05Z |
Investigation of BTI Reliability for Monolithic 3D 6T SRAM with Ultra-thin-body GeOI MOSFETs
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Hu, Vita Pi-Ho; Su, Pin; Chuang, Ching-Te |
| 國立交通大學 |
2017-04-21T06:49:57Z |
Impacts of Work Function Variation and Line-Edge Roughness on TFET and FinFET Devices and Logic Circuits
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Chen, Chien-Ju; Chen, Yin-Nien; Fan, Ming-Long; Hu, Vita Pi-Ho; Su, Pin; Chuang, Ching-Te |
| 國立交通大學 |
2017-04-21T06:49:47Z |
UTB GeOI 6T SRAM Cell and Sense Amplifier considering BTI Reliability
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Hu, Vita Pi-Ho; Su, Pin; Chuang, Ching-Te |
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